PN-EN ISO 8289:2002 - wersja angielska
Bez VAT:
60,80 PLN
Z VAT:
74,78 PLN
Powłoki szkliste i porcelanowe -- Test wysokonapięciowy do wykrywania i lokalizacji defektów
Zakres
Przedstawiono dwa badania z zastosowaniem niskiego napięcia w celu wykrycia i zlokalizowania wad w powłokach emalii szklistych i porcelanowych pokrywających podłoże metalowe. Metoda A (elektryczna) dotyczy szybkiego wykrywania i oznaczania przybliżonej lokalizacji wad. Metoda B (optyczna) dotyczy precyzyjnego wykrywania wad i ich dokładnej lokalizacji