PN-EN 62321-4:2014-08 - wersja angielska

W IEC 62321, Część 4 opisano metody badania rtęci w tworzywach sztucznych, metalach i elektronice metodami CV-AAS, CV-AFS, ICP-OES oraz ICP-MS. W niniejszej normie określono oznaczanie poziomu rtęci (Hg) zawartej w wyrobach elektrotechnicznych. Te materiały stanowią: tworzywa sztuczne, metale i elektronika (np. płytki drukowane, lampy fluorescencyjne o zimnej katodzie, wyłączniki rtęciowe). Z bateriami zawierającymi rtęć należy postępować się jak opisano w [1]. W międzylaboratoryjnych badaniach opracowano powyższe metody dla tworzyw sztucznych, innych próbek nie objęto badaniem. Niniejszy dokument odnosi się do próbki jako przedmiotu poddanego obróbce i pomiarom. Co stanowi próbkę i sposób jej pobierania zdefiniowano w opisie badania. Dodatkowe wskazówki dotyczące uzyskania reprezentatywnej próbki z gotowych wyrobów elektronicznych, badanych w celu określenia poziomu wybranych substancji znajdują się w IEC 62321-2. Zwraca się uwagę, że wybór i/lub sposób oznaczania próbki może wpływać na interpretację wyników pomiaru. W niniejszej normie opisano cztery metody: CV-AAS (atomową spektrometrię absorpcyjną z techniką zimnych par), CV-AFS (fluorescencyjną spektrometrię atomową z techniką zimnych par), ICP-OES (optyczną spektrometrię emisyjną z jonizacją w plazmie sprzężonej indukcyjnie) i ICP-MS (spektrometrię mas z jonizacją w plazmie sprzężonej indukcyjnie) oraz kilka procedur dotyczących przygotowania roztworów próbek. Spośród podanych metod należy wybrać najbardziej odpowiednią. Analizy prowadzone metodami: CV-AAS, CV-AFS, ICP-OES i ICP-MS umożliwiają oznaczanie wybranego pierwiastka -- rtęci z dużą precyzją (niski poziom niepewności) i/lub z wysoką czułością na poziomie poniżej µg/kg. Metody opisane w niniejszej normie charakteryzują się najwyższą dokładnością i precyzją oznaczania stężenia rtęci w zakresie od 4 mg/kg do 1 000 mg/kg. Procedury nie są ograniczone do wyższych stężeń. Bezpośrednią analizę z zastosowaniem termicznego rozkładu amalgamatu złota w połączeniu z CV-AAS (TD(G)-AAS) można również stosować do rtęci bez roztwarzania próbki, jednak granice wykrywania są wyższe niż w innych metodach ze względu zmniejszoną wielkość próbki.