PN-EN 62137:2007 - wersja polska

Norma wycofana i zastąpiona przez PN-EN 62137-4:2015-03 - wersja angielska

Bez VAT: 170,20  PLN Z VAT: 209,35  PLN
Badania środowiskowe i badanie trwałości -- Metody badań dotyczące płytek do montażu powierzchniowego obudów typu FBGA, BGA, FLGA, LGA, SON i QFN z wyprowadzeniami od spodu

Zakres

Podano metodę badania i wytyczne dotyczące oceny jakości i nieuszkadzalności płytek, pól lutowniczych, procesu lutowania i połączeń lutowanych obudów w matrycach i obudów z wyprowadzeniami rozmieszczonymi na obwodzie spodu obudowy, montowanych w procesie lutowania rozpływowego. Określono wytrzymałość dyskretnych przyrządów półprzewodnikowych i układów scalonych na narażenia mechaniczne i cieplne wywołane podczas lub po procesie montażu

* wymagane pola

Bez VAT: 170,20  PLN Z VAT: 209,35  PLN

Informacje dodatkowe

Numer PN-EN 62137:2007 - wersja polska
Tytuł Badania środowiskowe i badanie trwałości -- Metody badań dotyczące płytek do montażu powierzchniowego obudów typu FBGA, BGA, FLGA, LGA, SON i QFN z wyprowadzeniami od spodu
Data publikacji 05-10-2007
Data wycofania 09-03-2018
Liczba stron 29
Grupa cenowa N
Sektor SEK, Sektor Elektroniki
Organ Techniczny KT 293, Podzespołów RC, Obwodów Drukowanych i Montażu Powierzchniowego
Wprowadza EN 62137:2004 [IDT], IEC 62137:2004/COR1:2005 [IDT], IEC 62137:2004 [IDT], EN 62137:2004/corrigendum Feb. 2005 [IDT]
Zastępuje PN-EN 62137:2005/AC:2006 - wersja angielska, PN-EN 62137:2005 - wersja angielska
ICS 31.190
Zastąpiona przez PN-EN 62137-4:2015-03 - wersja angielska