PN-EN 61788-5:2002 - wersja angielska

Norma wycofana i zastąpiona przez PN-EN 61788-5:2013-12 - wersja angielska

Bez VAT: 117,00  PLN Z VAT: 143,91  PLN
Nadprzewodnictwo -- Część 5: Pomiar ilorazu objętości matrycy do nadprzewodnika -- Iloraz objętości miedzi do nadprzewodnika nadprzewodników kompozytowych Cu/Nb-Ti

Zakres

Dokument zawiera metodę badawczą wyznaczenia ilorazu objętości miedzi do nadprzewodnika nadprzewodników kompozytowych Cu/Nb-Ti. Przedstawiona metoda pomiaru dotyczy kompozytowych drutów nadprzewodzących Cu/Nb-Ti o powierzchni przekroju 0,1 mm2 do 3 mm2 i średnicy włókna (włókien) Nb-Ti równej 2 mikrom do 200 mikrom dla wartości ilorazu objętości miedzi do nadprzewodnika równej 0,5 lub większej. Nadprzewodnik kompozytowy Cu/Nb-Ti badany tą metodą posiada monolityczną strukturę i kołowy lub prostokątny przekrój poprzeczny. Badanie polega na rozpuszczaniu miedzi za pomocą kwasu azotowego. Metodę można stosować także do próbek nie spełniających podanych wyżej wymiarów, jeśli dopuszcza się zmniejszenia dokładności pomiaru. Podano sposoby wyliczenia wyników przedstawianych w raporcie pomiarowym oraz wymaganą zawartość raportu

* wymagane pola

Bez VAT: 117,00  PLN Z VAT: 143,91  PLN

Informacje dodatkowe

Numer PN-EN 61788-5:2002 - wersja angielska
Tytuł Nadprzewodnictwo -- Część 5: Pomiar ilorazu objętości matrycy do nadprzewodnika -- Iloraz objętości miedzi do nadprzewodnika nadprzewodników kompozytowych Cu/Nb-Ti
Data publikacji 15-08-2002
Data wycofania 06-12-2013
Liczba stron 17
Grupa cenowa J
Sektor SEK, Sektor Elektroniki
Organ Techniczny KT 290, Technik Specjalnych w Elektryce
Wprowadza EN 61788-5:2001 [IDT], IEC 61788-5:2000 [IDT]
ICS 29.050
Zastąpiona przez PN-EN 61788-5:2013-12 - wersja angielska