Informacje dodatkowe
| Numer | PN-EN 50527-1:2010 - wersja angielska |
|---|---|
| Tytuł | Procedura oceny ekspozycji pracowników z wszczepionymi aktywnymi implantami medycznymi w polach elektromagnetycznych -- Część 1: Informacje ogólne |
| Data publikacji | 22-09-2010 |
| Data wycofania | 24-01-2017 |
| Liczba stron | 39 |
| Grupa cenowa | R |
| Sektor | STI, Sektor Technik Informacyjnych i Komunikacji |
| Organ Techniczny | KT 104, Kompatybilności Elektromagnetycznej |
| Wprowadza | EN 50527-1:2010 [IDT] |
| ICS | 11.040.40, 13.100, 13.280 |
| Zastąpiona przez | PN-EN 50527-1:2017-01 - wersja angielska |

