PN-EN 14430:2005 - wersja angielska

Opisano dwie metody badania wysokim napięciem, stosowane do wykrywania i lokalizowania defektów w emaliach szklistych i porcelanowych. W badaniach stosuje się wysokie napięcie stałe, impulsowe lub przemienne. Badania stosuje się do suchych powierzchni i powłok. Ponieważ napięcie badawcze zależy od grubości powłoki, metoda badania, zwłaszcza metoda A, może nie być odpowiednia dla próbek, w których grubość powłoki zmienia się w szerokim zakresie