Zaawansowane wyszukiwanie w katalogu
108390 produkt(y) znalezione używając bieżących kryteriów wyszukiwania
- Data publikacji: Array
-
PN-EN 61726:2002 - wersja angielska
Norma wycofana i zastąpiona przez PN-EN 61726:2016-01 - wersja angielskaKable, przewody, złącza oraz komponenty pasywne wielkiej częstotliwości -- Pomiar tłumienności ekranu metodą komory rewerberacyjnejWprowadza: EN 61726:2000 [IDT], IEC 61726:1999 [IDT]
-
PN-EN 61726:2016-01 - wersja angielska
Norma wycofana i zastąpiona przez PN-EN IEC 61726:2023-04 - wersja angielskaKable, przewody, złącza oraz elementy bierne mikrofalowe -- Pomiar współczynnika ekranowania w komorze rewerberacyjnejWprowadza: EN 61726:2015 [IDT], IEC 61726:2015 [IDT]
-
PN-EN 61727:2002 - wersja angielska
Norma wycofanaSystemy fotowoltaiczne (PV) -- Charakterystyki uniwersalnych złączy standardowychWprowadza: EN 61727:1995 [IDT], IEC 61727:1995 [IDT]
-
PN-EN 61730-1:2007/A11:2015-06 - wersja angielska
Norma wycofana i zastąpiona przez PN-EN IEC 61730-1:2018-06 - wersja angielskaOcena bezpieczeństwa modułu fotowoltaicznego (PV) -- Część 1: Wymagania dotyczące konstrukcjiWprowadza: EN 61730-1:2007/A11:2014 [IDT]
-
PN-EN 61730-1:2007/A1:2012 - wersja angielska
Norma wycofana i zastąpiona przez PN-EN IEC 61730-1:2018-06 - wersja angielskaOcena bezpieczeństwa modułu fotowoltaicznego (PV) -- Część 1: Wymagania dotyczące konstrukcjiWprowadza: EN 61730-1:2007/A1:2012 [IDT], IEC 61730-2:2004/AMD1:2011 [IDT]
-
PN-EN 61730-1:2007/A2:2013-11 - wersja angielska
Norma wycofana i zastąpiona przez PN-EN IEC 61730-1:2018-06 - wersja angielskaOcena bezpieczeństwa modułu fotowoltaicznego (PV) -- Część 1: Wymagania dotyczące konstrukcjiWprowadza: EN 61730-1:2007/A2:2013 [IDT], IEC 61730-1:2004/AMD2:2013 [IDT]
-
PN-EN 61730-1:2007 - wersja angielska
Norma wycofana i zastąpiona przez PN-EN IEC 61730-1:2018-06 - wersja angielskaOcena bezpieczeństwa modułu fotowoltaicznego (PV) -- Część 1: Wymagania dotyczące konstrukcjiWprowadza: EN 61730-1:2007 [IDT], IEC 61730-1:2004 [MOD]
-
PN-EN 61730-2:2007/A1:2012 - wersja angielska
Norma wycofana i zastąpiona przez PN-EN IEC 61730-2:2018-06 - wersja angielskaOcena bezpieczeństwa modułu fotowoltaicznego (PV) -- Część 2: Wymagania dotyczące badańWprowadza: EN 61730-2:2007/A1:2012 [IDT], IEC 61730-2:2004/AMD1:2011 [IDT]
-
PN-EN 61730-2:2007 - wersja angielska
Norma wycofana i zastąpiona przez PN-EN IEC 61730-2:2018-06 - wersja angielskaOcena bezpieczeństwa modułu fotowoltaicznego (PV) -- Część 2: Wymagania dotyczące badańWprowadza: EN 61730-2:2007 [IDT], IEC 61730-2:2004 [MOD]
-
PN-EN 61733-1:1999 - wersja polska
Norma wycofanaPrzekaźniki pomiarowe i urządzenia zabezpieczeniowe -- Interfejsy komunikacyjne zabezpieczeń -- Postanowienia ogólneWprowadza: EN 61733-1:1996 [IDT], IEC 61733-1:1995 [IDT]
-
PN-EN 61744:2002 - wersja angielska
Norma wycofana i zastąpiona przez PN-EN 61744:2004 - wersja polskaKalibracja zestawów testowych światłowodowej dyspersji chromatycznejWprowadza: EN 61744:2001 [IDT], IEC 61744:2001 [IDT]
-
PN-EN 61744:2004 - wersja polska
Norma wycofana i zastąpiona przez PN-EN 61744:2006 - wersja angielskaKalibracja światłowodowych zestawów do badania dyspersji chromatycznejWprowadza: EN 61744:2001 [IDT], IEC 61744:2001 [IDT]
-
PN-EN 61744:2006 - wersja angielska
Norma wycofana i zastąpiona przez PN-EN IEC 61744:2023-12 - wersja angielskaKalibracja światłowodowych zestawów do badania dyspersji chromatycznejWprowadza: EN 61744:2005 [IDT], IEC 61744:2005 [IDT]
-
PN-EN 61745:2018-02 - wersja angielska
Wzorcowanie zestawów do badań geometrii światłowodu z wykorzystaniem procedury opartej o analizę obrazu powierzchni czołowejWprowadza: EN 61745:2017 [IDT], IEC 61745:2017 [IDT]
-
PN-EN 61746-1:2011 - wersja angielska
Kalibracja reflektometrów światłowodowych w dziedzinie czasu (OTDR) -- Część 1: OTDR dla światłowodów jednomodowychWprowadza: EN 61746-1:2011 [IDT], IEC 61746-1:2009 [IDT]
-
PN-EN 61746-2:2011 - wersja angielska
Kalibracja reflektometrów światłowodowych w dziedzinie czasu (OTDR) -- Część 2: OTDR dla światłowodów wielomodowychWprowadza: EN 61746-2:2011 [IDT], IEC 61746-2:2010 [IDT]
-
PN-EN 61746:2004 - wersja angielska
Norma wycofana i zastąpiona przez PN-EN 61746:2005 - wersja angielskaKalibracja reflektometrów optycznych pracujących w dziedzinie czasu (OTDR)Wprowadza: EN 61746:2001 [IDT], IEC 61746:2001 [IDT]
-
PN-EN 61746:2005 - wersja angielska
Norma wycofana i zastąpiona przez PN-EN 61746:2007 - wersja polskaKalibracja reflektometrów optycznych pracujących w dziedzinie czasu (OTDR)Wprowadza: EN 61746:2005 [IDT], IEC 61746:2005 [IDT]
-
PN-EN 61746:2007 - wersja polska
Norma wycofana i zastąpiona przez PN-EN 61746-2:2011 - wersja angielskaKalibracja reflektometrów światłowodowych w dziedzinie czasu (OTDR)Wprowadza: EN 61746:2005 [IDT], IEC 61746:2005 [IDT]
-
PN-EN 61747-10-1:2014-02 - wersja angielska
Wyświetlacze ciekłokrystaliczne -- Część 10-1: Metody badań środowiskowych, odpornościowych i mechanicznych -- Badania mechaniczneWprowadza: EN 61747-10-1:2013 [IDT], IEC 61747-10-1:2013 [IDT]
-
PN-EN 61747-1:2002/A1:2004 - wersja angielska
Norma wycofana i zastąpiona przez PN-EN 61747-1:2005 - wersja polskaWyświetlacze ciekłokrystaliczne i wyświetlacze na ciele stałym -- Część 1: Norma wspólnaWprowadza: EN 61747-1:1999/A1:2003 [IDT], IEC 61747-1:1998/AMD1:2003 [IDT]
-
PN-EN 61747-1:2002 - wersja angielska
Norma wycofana i zastąpiona przez PN-EN 61747-1:2005 - wersja polskaWyświetlacze ciekłokrystaliczne i wyświetlacze na ciele stałym -- Część 1: Norma wspólnaWprowadza: EN 61747-1:1999 [IDT], IEC 61747-1:1998 [IDT]
-
PN-EN 61747-1:2005 - wersja polska
Norma wycofanaWyświetlacze ciekłokrystaliczne i wyświetlacze na ciele stałym -- Część 1: Norma wspólnaWprowadza: EN 61747-1:1999 [IDT], EN 61747-1:1999/A1:2003 [IDT], IEC 61747-1:1998/AMD1:2003 [IDT], IEC 61747-1:1998 [IDT]
-
PN-EN 61747-2-1:2002 - wersja angielska
Norma wycofana i zastąpiona przez PN-EN 61747-2-1:2013-12 - wersja angielskaWyświetlacze ciekłokrystaliczne i wyświetlacze na ciele stałym -- Część 2-1: Monochromatyczne moduły ciekłokrystaliczne LCD z matrycą bierną -- Ramowa norma szczegółowaWprowadza: EN 61747-2-1:2001 [IDT], IEC 61747-2-1:1998 [IDT]
-
PN-EN 61747-2-1:2013-12 - wersja angielska
Wyświetlacze ciekłokrystaliczne -- Część 2-1: Monochromatyczne moduły ciekłokrystaliczne LCD z matrycą bierną -- Ramowa norma szczegółowaWprowadza: EN 61747-2-1:2013 [IDT], IEC 61747-2-1:2013 [IDT]
-
PN-EN 61747-2-2:2005 - wersja angielska
Wyświetlacze ciekłokrystaliczne -- Część 2-2: Kolorowa matryca modułów LCD -- Ramowa norma szczegółowaWprowadza: EN 61747-2-2:2004 [IDT], IEC 61747-2-2:2004 [IDT]
-
PN-EN 61747-2:2002 - wersja angielska
Norma wycofana i zastąpiona przez PN-EN 61747-2:2005 - wersja polskaWyświetlacze ciekłokrystaliczne i wyświetlacze na ciele stałym -- Część 2: Moduły wyświetlaczy ciekłokrystalicznych -- Norma grupowaWprowadza: EN 61747-2:1999 [IDT], IEC 61747-2:1998 [IDT]
-
PN-EN 61747-2:2005 - wersja polska
Norma wycofanaWyświetlacze ciekłokrystaliczne i wyświetlacze na ciele stałym -- Część 2: Moduły wyświetlaczy ciekłokrystalicznych -- Norma grupowaWprowadza: EN 61747-2:1999 [IDT], IEC 61747-2:1998 [IDT]
-
PN-EN 61747-3-1:2002 - wersja angielska
Norma wycofana i zastąpiona przez PN-EN 61747-3-1:2007 - wersja angielskaWyświetlacze ciekłokrystaliczne i wyświetlacze na ciele stałym -- Część 3-1: Komórki wyświetlaczy ciekłokrystalicznych (LCD) -- Ramowa norma szczegółowaWprowadza: EN 61747-3-1:1999 [IDT], IEC 61747-3-1:1998 [IDT]
-
PN-EN 61747-3-1:2007 - wersja angielska
Norma wycofanaWyświetlacze ciekłokrystaliczne -- Część 3-1: Komórki wyświetlaczy ciekłokrystalicznych (LCD) -- Ramowa norma szczegółowaWprowadza: EN 61747-3-1:2006 [IDT], IEC 61747-3-1:2006 [IDT]
-
PN-EN 61747-30-1:2013-04 - wersja angielska
Przyrządy z wyświetlaczami ciekłokrystalicznymi -- Część 30-1: Metody pomiaru modułów wyświetlaczy ciekłokrystalicznych -- Typ transmisyjnyWprowadza: EN 61747-30-1:2012 [IDT], IEC 61747-30-1:2012 [IDT]
-
PN-EN 61747-3:2002 - wersja angielska
Norma wycofana i zastąpiona przez PN-EN 61747-3:2007 - wersja angielskaWyświetlacze ciekłokrystaliczne i wyświetlacze na ciele stałym -- Część 3: Norma grupowa dotycząca komórek wyświetlaczy ciekłokrystalicznych (LCD)Wprowadza: EN 61747-3:1999 [IDT], IEC 61747-3:1998 [IDT]
-
PN-EN 61747-3:2007 - wersja angielska
Norma wycofanaWyświetlacze ciekłokrystaliczne -- Część 3: Komórki wyświetlaczy ciekłokrystalicznych (LCD) -- Norma grupowaWprowadza: EN 61747-3:2006 [IDT], IEC 61747-3:2006 [IDT]
-
PN-EN 61747-4-1:2005 - wersja angielska
Przyrządy półprzewodnikowe dyskretne -- Część 4-1: Kolorowa matryca modułów LCD -- Podstawowe wymagania i charakterystykiWprowadza: EN 61747-4-1:2004 [IDT], IEC 61747-4-1:2004 [IDT]
-
PN-EN 61747-4:2002 - wersja angielska
Norma wycofana i zastąpiona przez PN-EN 61747-4:2013-06 - wersja angielskaWyświetlacze ciekłokrystaliczne i wyświetlacze na ciele stałym -- Część 4: Moduły i komórki wyświetlaczy ciekłokrystalicznych -- Podstawowe graniczne wartości dopuszczalne i charakterystykiWprowadza: EN 61747-4:1998 [IDT], IEC 61747-4:1998 [IDT]
-
PN-EN 61747-4:2013-06 - wersja angielska
Wyświetlacze ciekłokrystaliczne -- Część 4: Moduły i komórki wyświetlaczy ciekłokrystalicznych -- Podstawowe wskaźniki i charakterystykiWprowadza: EN 61747-4:2012 [IDT], IEC 61747-4:2012 [IDT]
-
PN-EN 61747-5-2:2012 - wersja angielska
Norma wycofanaPrzyrządy z wyświetlaczami ciekłokrystalicznymi -- Część 5-2: Metody badań środowiskowych, odpornościowych i mechanicznych -- Ocena wizualna modułów kolorowych wyświetlaczy ciekłokrystalicznych z aktywną matrycąWprowadza: EN 61747-5-2:2011 [IDT], IEC 61747-5-2:2011 [IDT]
-
PN-EN 61747-5-3:2010 - wersja angielska
Przyrządy z wyświetlaczami ciekłokrystalicznymi -- Część 5-3: Metody badań środowiskowych, odpornościowych i mechanicznych -- Wytrzymałość i nieuszkadzalność szkłaWprowadza: EN 61747-5-3:2010 [IDT], IEC 61747-5-3:2009 [MOD]
-
PN-EN 61747-5:2002 - wersja angielska
Norma wycofana i zastąpiona przez PN-EN 61747-10-1:2014-02 - wersja angielskaWyświetlacze ciekłokrystaliczne i wyświetlacze na ciele stałym -- Część 5: Metody badań środowiskowych, odpornościowych i mechanicznychWprowadza: EN 61747-5:1998 [IDT], IEC 61747-5:1998 [IDT]
-
PN-EN 61747-6-2:2012 - wersja angielska
Przyrządy z wyświetlaczami ciekłokrystalicznymi -- Część 6-2: Metody pomiaru modułów wyświetlaczy ciekłokrystalicznych -- Typ odbiciowyWprowadza: EN 61747-6-2:2011 [IDT], IEC 61747-6-2:2011 [IDT], IEC 61747-6-2:2011/COR1:2012 [IDT]
-
PN-EN 61747-6-3:2012 - wersja angielska
Norma wycofanaPrzyrządy z wyświetlaczami ciekłokrystalicznymi -- Część 6-3: Metody pomiaru modułów wyświetlaczy ciekłokrystalicznych -- Pomiar artefaktów ruchu modułów ciekłokrystalicznych z matrycami aktywnymiWprowadza: EN 61747-6-3:2011 [IDT], IEC 61747-6-3:2011 [IDT]
-
PN-EN 61747-6:2005 - wersja angielska
Norma wycofana i zastąpiona przez PN-EN 61747-30-1:2013-04 - wersja angielskaWyświetlacze ciekłokrystaliczne i wyświetlacze na ciele stałym -- Część 6: Metody pomiarowe modułów ciekłokrystalicznych -- Typ przepuszczalnyWprowadza: EN 61747-6:2004 [IDT], IEC 61747-6:2004 [IDT]
-
PN-EN 61751:2002 - wersja angielska
Norma wycofanaModuły laserów wykorzystywane w telekomunikacji -- Ocena niezawodnościWprowadza: EN 61751:1998 [IDT], IEC 61751:1998 [IDT]
-
PN-EN 61753-021-2:2004 - wersja polska
Norma wycofana i zastąpiona przez PN-EN 61753-021-2:2008 - wersja angielskaNorma eksploatacyjna światłowodowych złączy i elementów biernych -- Część 021-2: Jednomodowe półzłącza światłowodowe dla kategorii C -- Środowisko kontrolowaneWprowadza: EN 61753-021-2:2002 [IDT], IEC 61753-021-2:2002 [IDT]
-
PN-EN 61753-021-2:2008 - wersja angielska
Norma wycofana i zastąpiona przez PN-EN IEC 61753-021-02:2024-06 - wersja angielskaNorma eksploatacyjna światłowodowych złączy i elementów biernych -- Część 021-2: Jednomodowe półzłącza światłowodowe klasy C/3 dla kategorii C -- Środowisko kontrolowaneWprowadza: EN 61753-021-2:2008 [IDT], IEC 61753-021-2:2007 [IDT]
-
PN-EN 61753-021-3:2013-06 - wersja angielska
Światłowodowe złącza i elementy bierne -- Norma eksploatacyjna -- Część 021-3: Jednomodowe złącza światłowodowe dla kategorii U -- Środowisko niekontrolowaneWprowadza: EN 61753-021-3:2013 [IDT], IEC 61753-021-3:2012 [IDT]
-
PN-EN 61753-021-6:2008 - wersja angielska
Norma wycofana i zastąpiona przez PN-EN IEC 61753-021-06:2024-06 - wersja angielskaŚwiatłowodowe złącza i elementy bierne -- Norma eksploatacyjna -- Część 021-6: Jednomodowe półzłącza światłowodowe klasy B/2 dla kategorii O -- Środowisko niekontrolowaneWprowadza: EN 61753-021-6:2008 [IDT], IEC 61753-021-6:2007 [IDT]
-
PN-EN 61753-022-2:2004 - wersja angielska
Norma wycofana i zastąpiona przez PN-EN 61753-022-2:2005 - wersja polskaNorma eksploatacyjna światłowodowych złączy i elementów biernych -- Część 022-2: Półzłącza światłowodowe zakończone na światłowodzie wielomodowym dla kategorii C -- Środowisko kontrolowaneWprowadza: EN 61753-022-2:2003 [IDT], IEC 61753-022-2:2003 [IDT]
-
PN-EN 61753-022-2:2005 - wersja polska
Norma wycofana i zastąpiona przez PN-EN 61753-022-2:2013-07 - wersja angielskaNorma eksploatacyjna światłowodowych złączy i elementów biernych -- Część 022-2: Wielomodowe półzłącza światłowodowe dla kategorii C -- Środowisko kontrolowaneWprowadza: EN 61753-022-2:2003 [IDT], IEC 61753-022-2:2003 [IDT]
-
PN-EN 61753-022-2:2013-07 - wersja angielska
Światłowodowe złącza i elementy bierne -- Norma eksploatacyjna -- Część 022-2: Wielomodowe półzłącza światłowodowe dla kategorii C -- Środowisko kontrolowaneWprowadza: EN 61753-022-2:2013 [IDT], IEC 61753-022-2:2012 [IDT]


