PN-EN 61747-6-3:2012 - wersja angielska

Norma wycofana

Bez VAT: 170,20  PLN Z VAT: 209,35  PLN
Przyrządy z wyświetlaczami ciekłokrystalicznymi -- Część 6-3: Metody pomiaru modułów wyświetlaczy ciekłokrystalicznych -- Pomiar artefaktów ruchu modułów ciekłokrystalicznych z matrycami aktywnymi

Zakres

Zdefiniowano artefakty w ruchomej zawartości obrazu. Opisano metody pomiaru artefaktów ruchu. Podano ogólne procedury oceny jakości i ogólne zasady pomiaru artefaktów ruchu modułów ciekłokrystalicznych z matrycami aktywnymi

* wymagane pola

Bez VAT: 170,20  PLN Z VAT: 209,35  PLN

Informacje dodatkowe

Numer PN-EN 61747-6-3:2012 - wersja angielska
Tytuł Przyrządy z wyświetlaczami ciekłokrystalicznymi -- Część 6-3: Metody pomiaru modułów wyświetlaczy ciekłokrystalicznych -- Pomiar artefaktów ruchu modułów ciekłokrystalicznych z matrycami aktywnymi
Data publikacji 19-03-2012
Data wycofania 24-11-2025
Liczba stron 27
Grupa cenowa N
Sektor SEK, Sektor Elektroniki
Organ Techniczny KT 60, Energoelektroniki i Przyrządów Półprzewodnikowych
Wprowadza EN 61747-6-3:2011 [IDT], IEC 61747-6-3:2011 [IDT]
ICS 31.120
Mój koszyk

Nie masz produktów w koszyku.

 

Pomóż nam utrzymać Magento w dobrej kondycji - Zgłaszaj wszystkie błędy

© 2012 Polski Komitet Normalizacyjny. All Rights Reserved.