PN-EN 61745:2018-02 - wersja angielska

Bez VAT: 249,60  PLN Z VAT: 307,01  PLN
Wzorcowanie zestawów do badań geometrii światłowodu z wykorzystaniem procedury opartej o analizę obrazu powierzchni czołowej

Zakres

Niniejszy dokument opisuje wzorcowanie zestawów wykorzystujących analizę obrazu powierzchni czołowej, nazywanej także analizą "pola bliskiego" albo "skali szarości". Niemniej jednak jej zasady mogą być zastosowane również do innego rodzaju zestawów.
Przedstawione w zarysie procedury są przeprowadzane przez laboratoria wzorcujące oraz przez producentów lub użytkowników zestawów do badań geometrii, w celu wzorcowania zestawów do badań geometrii i oceny niepewności pomiarów przeprowadzonych wzorcowanymi zestawami. Wzorcowanie zestawów do pomiaru powłoki włókna lub kabla nie jest przedmiotem niniejszego dokumentu.

* wymagane pola

Bez VAT: 249,60  PLN Z VAT: 307,01  PLN

Informacje dodatkowe

Numer PN-EN 61745:2018-02 - wersja angielska
Tytuł Wzorcowanie zestawów do badań geometrii światłowodu z wykorzystaniem procedury opartej o analizę obrazu powierzchni czołowej
Data publikacji 06-02-2018
Liczba stron 48
Grupa cenowa T
Sektor SEK, Sektor Elektroniki
Organ Techniczny KT 282, Techniki Światłowodowej
Wprowadza EN 61745:2017 [IDT], IEC 61745:2017 [IDT]
ICS 33.180.01