PN-EN 61726:2016-01 - wersja angielska

Wymagania stawiane przez nowoczesne urządzenia elektroniczne wskazują, że potrzebna jest metoda pomiaru współczynnika ekranowania elementów mikrofalowych w pełnym zakresie częstotliwości. Tradycyjne metody badań dotyczą niskich częstotliwości i elementów o regularnym kształcie. Metody te opisano w wymaganiach szczegółowych IEC dotyczących konkretnych wyrobów (np. IEC 62153-4-3). Dla wyższych częstotliwości i elementów o nieregularnym kształcie konieczna stała się nowa metoda badań, którą opisano w niniejszej Normie Międzynarodowej. W niniejszej Normie Międzynarodowej opisano metodę pomiaru współczynnika ekranowania w komorze rewerberacyjnej, zwanej też komorą z mieszaczem modów, odpowiednią dla praktycznie wszystkich typów elementów mikrofalowych i bez teoretycznej górnej granicy częstotliwości. Dolna granica częstotliwości jest w tej metodzie ograniczona z powodu wymiarów aparatury badawczej, które zależą od częstotliwości; jest ona tylko jedną z wielu metod pomiaru współczynnika ekranowania. Niniejszą normę stosuje się do takich przykładowych elementów mikrofalowych jak falowody, przesuwniki fazowe, dipleksery, multipleksery, dzielniki mocy, sumatory, itp.