Informacje dodatkowe
Numer | PN-ISO 6342:1999 - wersja polska |
---|---|
Tytuł | Mikrografia -- Karty okienkowe -- Metoda pomiaru grubości w obszarze naklejenia |
Data publikacji | 07-01-1999 |
Data wycofania | 29-09-2005 |
Liczba stron | 6 |
Grupa cenowa | C |
Sektor | SZP, Sektor Zagadnień Podstawowych i Systemów Zarządzania |
Organ Techniczny | RS SZP, Rada Sektorowa Sektora Zagadnień Podstawowych i Systemów Zarządzania |
Wprowadza | ISO 6342:1993 [IDT] |
ICS | 37.080 |
Zastąpiona przez | PN-ISO 6342:2005 - wersja polska |