Informacje dodatkowe
| Numer | PN-ISO 6342:1999 - wersja polska |
|---|---|
| Tytuł | Mikrografia -- Karty okienkowe -- Metoda pomiaru grubości w obszarze naklejenia |
| Data publikacji | 07-01-1999 |
| Data wycofania | 29-09-2005 |
| Liczba stron | 6 |
| Grupa cenowa | C |
| Sektor | SZP, Sektor Zagadnień Podstawowych i Systemów Zarządzania |
| Organ Techniczny | RS SZP, Rada Sektorowa Sektora Zagadnień Podstawowych i Systemów Zarządzania |
| Wprowadza | ISO 6342:1993 [IDT] |
| ICS | 37.080 |
| Zastąpiona przez | PN-ISO 6342:2005 - wersja polska |
