PN-ISO 6342:1999 - wersja polska

Norma wycofana i zastąpiona przez PN-ISO 6342:2005 - wersja polska

Bez VAT: 38,10  PLN Z VAT: 46,86  PLN
Mikrografia -- Karty okienkowe -- Metoda pomiaru grubości w obszarze naklejenia

Zakres

Określono grubość karty okienkowej w obszarze naklejenia jako różnicę między grubością w obszarze naklejenia a grubością karty, mierzonej w obu przypadkach za pomocą mikrometru

* wymagane pola

Bez VAT: 38,10  PLN Z VAT: 46,86  PLN

Informacje dodatkowe

Numer PN-ISO 6342:1999 - wersja polska
Tytuł Mikrografia -- Karty okienkowe -- Metoda pomiaru grubości w obszarze naklejenia
Data publikacji 07-01-1999
Data wycofania 29-09-2005
Liczba stron 6
Grupa cenowa C
Sektor SZP, Sektor Zagadnień Podstawowych i Systemów Zarządzania
Organ Techniczny RS SZP, Rada Sektorowa Sektora Zagadnień Podstawowych i Systemów Zarządzania
Wprowadza ISO 6342:1993 [IDT]
ICS 37.080
Zastąpiona przez PN-ISO 6342:2005 - wersja polska