PN-ISO 6342:2005 - wersja polska

Bez VAT: 48,10  PLN Z VAT: 59,16  PLN
Mikrografia -- Karty okienkowe -- Metoda pomiaru grubości w obszarze naklejenia

Zakres

Określono metodę wyznaczania grubości karty okienkowej w obszarze naklejenia jako różnicę między grubością w obszarze naklejenia a grubością karty, mierzonych za pomocą mikrometru

* wymagane pola

Bez VAT: 48,10  PLN Z VAT: 59,16  PLN

Informacje dodatkowe

Numer PN-ISO 6342:2005 - wersja polska
Tytuł Mikrografia -- Karty okienkowe -- Metoda pomiaru grubości w obszarze naklejenia
Data publikacji 29-09-2005
Liczba stron 7
Grupa cenowa D
Sektor SZP, Sektor Zagadnień Podstawowych i Systemów Zarządzania
Organ Techniczny RS SZP, Rada Sektorowa Sektora Zagadnień Podstawowych i Systemów Zarządzania
Wprowadza ISO 6342:2003 [IDT]
Zastępuje PN-ISO 6342:1999 - wersja polska
ICS 37.080