Informacje dodatkowe
| Numer | PN-ISO 6342:2005 - wersja polska |
|---|---|
| Tytuł | Mikrografia -- Karty okienkowe -- Metoda pomiaru grubości w obszarze naklejenia |
| Data publikacji | 29-09-2005 |
| Liczba stron | 7 |
| Grupa cenowa | D |
| Sektor | SZP, Sektor Zagadnień Podstawowych i Systemów Zarządzania |
| Organ Techniczny | RS SZP, Rada Sektorowa Sektora Zagadnień Podstawowych i Systemów Zarządzania |
| Wprowadza | ISO 6342:2003 [IDT] |
| Zastępuje | PN-ISO 6342:1999 - wersja polska |
| ICS | 37.080 |
Produkty powiązane
Mój koszyk
Nie masz produktów w koszyku.
