PN-EN ISO 9220:2001 - wersja polska

Norma wycofana i zastąpiona przez PN-EN ISO 9220:2022-07 - wersja angielska

Bez VAT: 54,60  PLN Z VAT: 67,16  PLN
Powłoki metalowe -- Pomiar grubości powłok -- Metoda elektronowej mikroskopii skaningowej

Zakres

Podano metodę pomiaru lokalnej grubości powłok metalowych polegającą na obserwacji przekroju poprzecznego przez powłokę przy użyciu elektronowego mikroskopu skaningowego. Metoda ta jest niszcząca, a jej niepewność jest mniejsza niż 10 procent lub 0,1 mikrom, zależnie od tego, która wartość jest większa. Metoda ta może być stosowana dla powłok o grubości do kilku milimetrów, jakkolwiek dla tak grubych powłok bardziej praktyczne jest zastosowanie mikroskopii świetlnej. W załączniku podano sposób przygotowania przekrojów poprzecznych

* wymagane pola

Bez VAT: 54,60  PLN Z VAT: 67,16  PLN

Informacje dodatkowe

Numer PN-EN ISO 9220:2001 - wersja polska
Tytuł Powłoki metalowe -- Pomiar grubości powłok -- Metoda elektronowej mikroskopii skaningowej
Data publikacji 02-02-2001
Data wycofania 29-07-2022
Liczba stron 10
Grupa cenowa E
Sektor SHT, Sektor Hutnictwa
Organ Techniczny KT 106, Korozji i Ochrony przed Korozją Materiałów Metalowych
Wprowadza EN ISO 9220:1994 [IDT], ISO 9220:1988 [IDT]
ICS 25.220.40
Zastąpiona przez PN-EN ISO 9220:2022-07 - wersja angielska