PN-EN ISO 9220:2022-07 - wersja angielska

W niniejszym dokumencie określono niszczącą metodę pomiaru lokalnej grubości powłok metalowych i innych powłok nieorganicznych polegającą na obserwacji przekroju poprzecznego przez powłokę przy użyciu skaningowego mikroskopu elektronowego (SEM). Metodę tę stosuje się dla powłok o grubości do kilku milimetrów, jednak dla tak grubych powłok bardziej praktyczne jest zwykle zastosowanie mikroskopii świetlnej (patrz ISO 1463). Dolna granica grubości zależy od uzyskanej niepewności pomiaru.
UWAGA Metodę tę można stosować również do powłok organicznych, jeśli nie są one uszkodzone podczas przygotowania przekroju poprzecznego ani przez wiązkę elektronów podczas obrazowania.