PN-EN ISO 12179:2022-06 - wersja angielska
Bez VAT:
139,60 PLN
Z VAT:
171,71 PLN
Specyfikacje geometrii wyrobów (GPS) -- Struktura geometryczna powierzchni: Metoda profilowa -- Wzorcowanie przyrządów stykowych (z ostrzem odwzorowującym)
Zakres
W niniejszym dokumencie określono kalibrację i regulację charakterystyk metrologicznych przyrządów stykowych (z ostrzem odwzorowującym) do pomiaru tekstury powierzchni metodą profilową, jak zdefiniowano w ISO 3274. Kalibracja i regulacja jest przewidziana do przeprowadzenia za pomocą norm pomiarowych.
W Załączniku B określono kalibrację i regulację charakterystyk metrologicznych uproszczonych przyrządów stykowych (z ostrzem odwzorowującym), które nie są zgodne z normą ISO 3274.