PN-EN ISO 10111:2004 - wersja polska

Określono ogólne metody oznaczania średniej gęstości powierzchniowej anodowych powłok tlenkowych lub powłok osadzanych autokatalitycznie, mechanicznie, w wyniku konwersji chemicznej, powłok elektrolitycznych, powłok zanurzeniowych lub powłok osadzonych próżniowo, z zastosowaniem metod wagowych lub metod analizy chemicznej. Opisano różne metody, w tym: 1) metody wagowe polegające na chemicznym lub elektrochemicznym rozpuszczaniu powłoki lub podłoża w celu oznaczania gęstości powierzchniowej powłoki, 2) metody analityczne, w których stosuje się rozpuszczanie powłok w celu fotometrycznego lub objętościowego oznaczania ich gęstości powierzchniowej, 3) nieniszczące instrumentalne metody analizy fizycznej powłok stosowane do oznaczania ich gęstości powierzchniowej