PN-EN 60068-2-82:2008 - wersja angielska
Bez VAT:
188,80 PLN
Z VAT:
232,22 PLN
Badania środowiskowe -- Część 2-82: Próby -- Próba Tx: Metody badania wiskerów występujących na elementach elektronicznych i elektrycznych
Zakres
Podano metodę badania wiskerów (kryształków cyny) występujących na elementach elektrycznych lub elektronicznych pokrytych powłoką cynową lub powłoką zawierającą cynę w stopie. Norma nie obejmuje badań wiskerów, które mogą narastać na skutek zewnętrznego, mechanicznego naprężenia