PN-EN 60068-2-82:2008 - wersja angielska

Norma wycofana i zastąpiona przez PN-EN IEC 60068-2-82:2019-10 - wersja angielska

Bez VAT: 188,80  PLN Z VAT: 232,22  PLN
Badania środowiskowe -- Część 2-82: Próby -- Próba Tx: Metody badania wiskerów występujących na elementach elektronicznych i elektrycznych

Zakres

Podano metodę badania wiskerów (kryształków cyny) występujących na elementach elektrycznych lub elektronicznych pokrytych powłoką cynową lub powłoką zawierającą cynę w stopie. Norma nie obejmuje badań wiskerów, które mogą narastać na skutek zewnętrznego, mechanicznego naprężenia

* wymagane pola

Bez VAT: 188,80  PLN Z VAT: 232,22  PLN

Informacje dodatkowe

Numer PN-EN 60068-2-82:2008 - wersja angielska
Tytuł Badania środowiskowe -- Część 2-82: Próby -- Próba Tx: Metody badania wiskerów występujących na elementach elektronicznych i elektrycznych
Data publikacji 29-01-2008
Data wycofania 01-10-2019
Liczba stron 35
Grupa cenowa Q
Sektor SEK, Sektor Elektroniki
Organ Techniczny KT 293, Podzespołów RC, Obwodów Drukowanych i Montażu Powierzchniowego
Wprowadza EN 60068-2-82:2007 [IDT], IEC 60068-2-82:2007/COR1:2009 [IDT], IEC 60068-2-82:2007 [IDT]
ICS 19.040
Zastąpiona przez PN-EN IEC 60068-2-82:2019-10 - wersja angielska