PN-EN 15063-2:2009 - wersja polska

Bez VAT: 48,60  PLN Z VAT: 59,78  PLN
Miedź i stopy miedzi -- Oznaczanie głównych składników i zanieczyszczeń metodą fluorescencyjnej spektrometrii rentgenowskiej z dyspersją fal (XRF) -- Część 2: Metoda rutynowa

Zakres

Podano rutynową metodę analizy miedzi i stopów miedzi za pomocą fluorescencyjnej spektrometrii rentgenowskiej z dyspersją fal, stosowaną do wszystkich pierwiastków wykrywalnych metodą XRF (zanieczyszczeń, składników na średnim poziomie zawartości i składników głównych) oraz do analizy zarówno wyrobów nieprzerobionych plastycznie, łącznie z odlewami kokilowymi, jak i wyrobów przerobionych plastycznie

* wymagane pola

Bez VAT: 48,60  PLN Z VAT: 59,78  PLN

Informacje dodatkowe

Numer normy PN-EN 15063-2:2009 - wersja polska
Tytuł Miedź i stopy miedzi -- Oznaczanie głównych składników i zanieczyszczeń metodą fluorescencyjnej spektrometrii rentgenowskiej z dyspersją fal (XRF) -- Część 2: Metoda rutynowa
Data publikacji 21-04-2009
Liczba stron 12
Grupa cenowa F
Sektor SHT, Sektor Hutnictwa
Organ Techniczny KT 29, Analiz Chemicznych Rud, Koncentratów i Metali
Wprowadza EN 15063-2:2006 [IDT]
Zastępuje PN-EN 15063-2:2006 - wersja angielska
ICS 77.120.30