PN-EN 15063-2:2006 - wersja angielska
Bez VAT:
54,60 PLN
Z VAT:
67,16 PLN
Miedź i stopy miedzi -- Oznaczanie głównych składników i zanieczyszczeń metodą fluorescencyjnej spektrometrii promieni rentgenowskich z dyspersją fal (XRF) -- Część 2: Metoda rutynowa
Zakres
Podano rutynową metodę analizy miedzi i stopów miedzi z zastosowaniem fluorescencyjnej spektrometrii promieni rentgenowskich z dyspersją fal. Określono stosowanie do wszystkich pierwiastków wykrywalnych metodą XRF: zanieczyszczeń, składników ubocznych i głównych oraz do analizy zarówno wyrobów nieprzerobionych plastycznie, łącznie z odlewami utwardzonymi (kokilowymi), jak i wyrobów przerobionych plastycznie
