PN-EN 14086:2003 - wersja angielska

Norma wycofana i zastąpiona przez PN-EN 14086:2005 - wersja polska

Bez VAT: 117,00  PLN Z VAT: 143,91  PLN
Papier i tektura -- Pomiar połysku -- Połysk przy kącie 45 stopni z zastosowaniem wiązki równoległej, metoda DIN

Zakres

Podano fotometryczną metodę badania przeznaczoną do oszacowania wizualnego połysku zmierzonego dla kąta odbicia 45 stopni. Omówiono terminy i definicje, zasadę metody, wyposażenie, pobieranie próbek, przygotowanie próbek badanych, procedurę oraz protokół badań

* wymagane pola

Bez VAT: 117,00  PLN Z VAT: 143,91  PLN

Informacje dodatkowe

Numer PN-EN 14086:2003 - wersja angielska
Tytuł Papier i tektura -- Pomiar połysku -- Połysk przy kącie 45 stopni z zastosowaniem wiązki równoległej, metoda DIN
Data publikacji 15-11-2003
Data wycofania 04-04-2005
Liczba stron 17
Grupa cenowa J
Sektor SPU, Sektor Produktów Powszechnego Użytku
Organ Techniczny KT 25, Mas Włóknistych, Papieru, Tektury i ich Przetworów
Wprowadza EN 14086:2003 [IDT]
ICS 85.060
Zastąpiona przez PN-EN 14086:2005 - wersja polska