Strona główna /
PN-EN 14086:2005 - wersja polska

PN-EN 14086:2005 - wersja polska

Bez VAT: 117,00 PLN Z VAT: 143,91 PLN

Papier i tektura -- Pomiar połysku -- Połysk pod kątem 45 stopni z zastosowaniem wiązki równoległej, metoda DIN

Zakres

Podano fotometryczną metodę badania oceny wizualnego odczucia połysku przy użyciu reflektometru, gdy wartość współczynnika odbicia fali jest mierzona pod kątem 45 stopni. Określono zasadę metody, wyposażenie, pobieranie próbek, przygotowanie próbek do badań, wykonanie oznaczenia oraz protokół badań

* Forma udostępnienia: Plik - 117,00 PLN

Papier - 117,00 PLN

Czytelnia - pakiet (30 minut) - 18,80 PLN

* wymagane pola

Bez VAT: 117,00 PLN Z VAT: 143,91 PLN

Liczba stanowisk: Liczba:

Informacje dodatkowe

Numer	PN-EN 14086:2005 - wersja polska
Tytuł	Papier i tektura -- Pomiar połysku -- Połysk pod kątem 45 stopni z zastosowaniem wiązki równoległej, metoda DIN
Data publikacji	04-04-2005
Liczba stron	18
Grupa cenowa	J
Sektor	SPU, Sektor Produktów Powszechnego Użytku
Organ Techniczny	KT 25, Mas Włóknistych, Papieru, Tektury i ich Przetworów
Wprowadza	EN 14086:2003 [IDT]
Zastępuje	PN-EN 14086:2003 - wersja angielska
ICS	85.060

Ostatnio oglądane produkty

Mój koszyk

Nie masz produktów w koszyku.