Zakres
Podano metodę optycznej spektrometrii emisyjnej z wyładowaniem jarzeniowym, przeznaczoną do oznaczania grubości i składu chemicznego powierzchniowych powłok metalicznych, składających się ze stopów na bazie cynku i glinu. Wzięto pod uwagę pierwiastki: glin, nikiel, krzem i ołów. Określono stosowanie do zawartości cynku od 40 % do 100 % (ułamek masowy), do zawartości glinu od 0,01 % do 60 % (ułamek masowy), do zawartości niklu od 0,01 % do 15 % (ułamek masowy), do zawartości krzemu od 0,01 % do 3 % (ułamek masowy) i do zawartości ołowiu od 0,005 % do 0,1 % (ułamek masowy)