Zakres
Podano metodę optycznej spektrometrii emisyjnej z wyładowaniem jarzeniowym, przeznaczoną do oznaczania grubości i składu chemicznego metalicznych powłok powierzchniowych składających się ze stopów na osnowie cynku i aluminium. Brane pod uwagę pierwiastki to glin, nikiel, krzem i ołów. Metodę stosuje się do zawartości cynku od 40 procent do 100 procent (ułamek masowy), do zawartości glinu od 0,01 procent do 60 procent (ułamek masowy), do zawartości niklu od 0,01 procent do 15 procent (ułamek masowy), do zawartości krzemu od 0,01 procent do 3 procent (ułamek masowy) i do zawartości ołowiu od 0,005 procent do 0,1 procent (ułamek masowy)
