Analiza surowców i materiałów ceramicznych -- Bezpośrednie oznaczanie zanieczyszczeń, wyrażonych w ułamkach masowych, w proszkach i granulatach węglika krzemu techniką optycznej spektrometrii emisyjnej z plazmą sprzężoną indukcyjnie z odparowaniem elektrochemicznym (ETV-ICP-OES)
Zakres
W niniejszym dokumencie określono metodę oznaczania ułamków masowych pierwiastków śladowych Al, Ca, Cr, Cu, Fe, Mg, Ni, Ti, V i Zr w proszkach i granulatach węglika krzemu.
W zależności od pierwiastka, linii emisyjnej, warunków pracy plazmy i masy próbki, niniejsza metoda badania ma zastosowanie do ułamków masowych pierwiastków od około 0,1 mg/kg do około 1 000 mg/kg, a po dostosowaniu również od 0,001 mg/kg do około 5 000 mg/kg.
UWAGA 1 Zasadniczo optyczna spektrometria emisyjna z plazmą sprzężoną indukcyjnie z odparowaniem elektrochemicznym (ETV-ICP-OES) ma liniowy zakres pracy w czterech rzędach wielkości. Zakres ten można rozszerzyć dla odpowiednich pierwiastków poprzez zmianę masy próbki lub wybór linii o różnej czułości. Po odpowiedniej weryfikacji niniejszy dokument ma także zastosowanie dla dodatkowych pierwiastków metalicznych (z wyjątkiem Rb i Cs) i niektórych zanieczyszczeń niemetalicznych (takich jak P i S) i innych pokrewnych niemetalicznych proszków i granulatów, takich jak węgliki, azotki, grafit, sadza, koks, węgiel i inne materiały tlenkowe (patrz [1], [4], [5], [6], [7], [8], [9] and [10]).
UWAGA 2 Są pozytywne doświadczenia z materiałami, takimi jak na przykład grafit, węglik boru (B₄C), azotek krzemu (Si₃N₄), azotek boru (BN) i kilka tlenków metali, a także z oznaczaniem P i S w niektórych z tych materiałów.
