Analiza surowców i materiałów ceramicznych -- Bezpośrednie oznaczanie zanieczyszczeń, wyrażonych w ułamkach masowych, w proszkach i granulatach węglika krzemu techniką optycznej spektrometrii emisyjnej z plazmą sprzężoną indukcyjnie (ICP OES) z odparowaniem elektrochemicznym (ETV)
Zakres
W niniejszej Normie Europejskiej określono metodę oznaczania stężenia pierwiastków śladowych Al, Ca, Cr, Cu, Fe, Mg, Ni, Ti, V i Zr w proszkach i granulatach węglika krzemu. W zależności od pierwiastka, linii emisyjnej, warunków pracy plazmy i odważki, metoda badania ta ma zastosowanie do stężeń pierwiastków od około 0,1 mg/kg do około 1 000 mg/kg, a po dostosowaniu również od 0,001 mg/kg do około 5 000 mg/kg. UWAGA 1 Zasadniczo optyczna spektrometria emisyjna z plazmą sprzężoną indukcyjnie (ICP OES) z odparowaniem elektrochemicznym (ETV) ma liniowy zakres pracy w czterech rzędach wielkości. Zakres ten można rozszerzyć dla odpowiednich pierwiastków poprzez zmianę odważki lub wybór linii o różnej czułości. Po odpowiedniej weryfikacji norma ma także zastosowanie dla dodatkowych pierwiastków metalicznych (z wyjątkiem Rb i Cs) i niektórych zanieczyszczeń niemetalicznych (takich jak P i S) i innych pokrewnych niemetalicznych proszków i granulatów, takich jak węgliki, azotki, grafit, sadza, koks, węgiel i inne materiały tlenkowe. UWAGA 2 Są pozytywne doświadczenia z materiałami, takimi jak na przykład grafit, B4C, Si3N4, BN i kilka tlenków metali, a także z oznaczaniem P i S w niektórych z tych materiałów
