Analiza surowców i materiałów ceramicznych -- Bezpośrednie oznaczanie zanieczyszczeń, wyrażonych w ułamkach masowych, w proszkach i granulatach węglika krzemu techniką spektrometrii emisyjnej z plazmą sprzężoną indukcyjnie (ICP OES) z odparowaniem elektrochemicznym (ETV)
Zakres
Określono metodę oznaczania stężenia pierwiastków śladowych Al, Ca, Cr, Cu, Fe, Mg, Ni, Ti, V i Zr w proszkach i granulatach weglika krzemu. Określono stosowanie do stężeń pierwiastków od 0,1 mg/kg do 1 000 mg/kg i po dostosowaniu od 0,001 mg/kg do 5 000 mg/kg w zależności od pierwiastka, linii emisyjnej, typu plazmy i odważki. Podano zasadę metody, aparaturę, pobieranie próbek, procedurę badania, dokładność wyników i sprawozdanie z badań
