Zaawansowane wyszukiwanie w katalogu
108390 produkt(y) znalezione używając bieżących kryteriów wyszukiwania
- Data publikacji: Array
-
PN-EN 60512-23-2:2010 - wersja angielska
Złącza do urządzeń elektronicznych -- Badania i pomiary -- Część 23-2: Badania ekranowania i filtrowania -- Badanie 23b: Charakterystyki tłumienia filtrów integralnychWprowadza: EN 60512-23-2:2010 [IDT], IEC 60512-23-2:2010 [IDT]
-
PN-EN 60512-23-3:2002 - wersja angielska
Norma wycofana i zastąpiona przez PN-EN 60512-23-3:2004 - wersja polskaPodzespoły elektromechaniczne do urządzeń elektronicznych -- Podstawowe procedury badań i metody pomiarów -- Część 23-3: Badanie 23c: Skuteczność ekranowania złączy i akcesoriówWprowadza: EN 60512-23-3:2001 [IDT], IEC 60512-23-3:2000 [IDT]
-
PN-EN 60512-23-3:2004 - wersja polska
Norma wycofana i zastąpiona przez PN-EN IEC 60512-23-3:2019-04 - wersja angielskaPodzespoły elektromechaniczne do urządzeń elektronicznych -- Podstawowe procedury badań i metody pomiarów -- Część 23-3: Badanie 23c: Skuteczność ekranowania złączy i akcesoriówWprowadza: EN 60512-23-3:2001 [IDT], IEC 60512-23-3:2000 [IDT]
-
PN-EN 60512-23-4:2002 - wersja angielska
Złącza do urządzeń elektronicznych -- Badania i pomiary -- Część 23-4: Badania ekranowania i filtrowania -- Badanie 23d: Wyszukiwanie uszkodzeń kabli za pomocą reflektometrówWprowadza: EN 60512-23-4:2001 [IDT], IEC 60512-23-4:2001 [IDT]
-
PN-EN 60512-23-7:2005 - wersja angielska
Złącza do urządzeń elektronicznych -- Badania i pomiary -- Część 23-7: Badania ekranowania i filtrowania -- Badanie 23g: Skuteczna impedancja przejściowa złączyWprowadza: EN 60512-23-7:2005 [IDT], IEC 60512-23-7:2005 [IDT]
-
PN-EN 60512-24-1:2013-04 - wersja angielska
Złącza do urządzeń elektronicznych -- Badania i pomiary -- Część 24-1: Badania zakłóceń magnetycznych -- Badanie 24a: Magnetyzm szczątkowyWprowadza: EN 60512-24-1:2012 [IDT], IEC 60512-24-1:2010 [IDT]
-
PN-EN 60512-25-1:2002 - wersja angielska
Złącza dla sprzętu elektronicznego -- Badania i pomiary -- Część 25-1: Badanie 25a -- Współczynnik przesłuchuWprowadza: EN 60512-25-1:2001 [IDT], IEC 60512-25-1:2001 [IDT]
-
PN-EN 60512-25-2:2002 - wersja angielska
Złącza do urządzeń elektronicznych -- Badania i pomiary -- Część 25-2: Badanie 25b: Tłumienność/tłumienność wtrąceniowaWprowadza: EN 60512-25-2:2002 [IDT], IEC 60512-25-2:2002 [IDT]
-
PN-EN 60512-25-3:2002 - wersja angielska
Złącza dla sprzętu elektronicznego -- Badania i pomiary -- Część 25-3: Badanie 25c -- Pogorszenie czasu narastaniaWprowadza: EN 60512-25-3:2001 [IDT], IEC 60512-25-3:2001 [IDT]
-
PN-EN 60512-25-4:2002 - wersja angielska
Norma wycofana i zastąpiona przez PN-EN 60512-25-4:2006 - wersja polskaZłącza dla sprzętu elektronicznego -- Badania i pomiary -- Część 25-4: Badanie 25d -- Opóźnienie sygnałuWprowadza: EN 60512-25-4:2001 [IDT], IEC 60512-25-4:2001 [IDT]
-
PN-EN 60512-25-4:2006 - wersja polska
Złącza do urządzeń elektronicznych -- Badania i pomiary -- Część 25-4: Badanie 25d: Opóźnienie propagacjiWprowadza: EN 60512-25-4:2001 [IDT], IEC 60512-25-4:2001 [IDT]
-
PN-EN 60512-25-5:2005 - wersja angielska
Norma wycofana i zastąpiona przez PN-EN 60512-25-5:2007 - wersja polskaZłącza do urządzeń elektronicznych -- Badania i pomiary -- Część 25-5: Badanie 25e: Tłumienność odbiciaWprowadza: EN 60512-25-5:2004 [IDT], IEC 60512-25-5:2004 [IDT]
-
PN-EN 60512-25-5:2007 - wersja polska
Złącza do urządzeń elektronicznych -- Badania i pomiary -- Część 25-5: Badanie 25e: Straty odbiciaWprowadza: EN 60512-25-5:2004 [IDT], IEC 60512-25-5:2004 [IDT]
-
PN-EN 60512-25-6:2005 - wersja angielska
Norma wycofana i zastąpiona przez PN-EN 60512-25-6:2007 - wersja polskaZłącza do urządzeń elektronicznych -- Badania i pomiary -- Część 25-6: Badanie 25f: Wzorcowy obraz oscyloskopowy jakości i fluktuacji sygnału cyfrowegoWprowadza: EN 60512-25-6:2004 [IDT], IEC 60512-25-6:2004 [IDT]
-
PN-EN 60512-25-6:2007 - wersja polska
Złącza do urządzeń elektronicznych -- Badania i pomiary -- Część 25-6: Badanie 25f: Diagram oko i niestabilnośćWprowadza: EN 60512-25-6:2004 [IDT], IEC 60512-25-6:2004 [IDT]
-
PN-EN 60512-25-7:2005 - wersja angielska
Norma wycofana i zastąpiona przez PN-EN 60512-25-7:2007 - wersja polskaZłącza do urządzeń elektronicznych -- Badania i pomiary -- Część 25-7: Badanie 25g: Impedancja, współczynnik odbicia i współczynnik fali stojącej (WFS)Wprowadza: EN 60512-25-7:2005 [IDT], IEC 60512-25-7:2004 [IDT]
-
PN-EN 60512-25-7:2007 - wersja polska
Złącza do urządzeń elektronicznych -- Badania i pomiary -- Część 25-7: Badanie 25g: Impedancja, współczynnik odbicia i współczynnik fali stojącej (WFS)Wprowadza: EN 60512-25-7:2005 [IDT], IEC 60512-25-7:2004 [IDT]
-
PN-EN 60512-25-9:2009 - wersja angielska
Złącza do urządzeń elektronicznych -- Badania i pomiary -- Część 25-9: Badania integralności sygnału -- Badanie 25i: Obcy przesłuchWprowadza: EN 60512-25-9:2008 [IDT], IEC 60512-25-9:2008 [IDT]
-
PN-EN 60512-26-100:2009/A1:2011 - wersja angielska
Złącza do urządzeń elektronicznych -- Badania i pomiary -- Część 26-100: Układ do pomiaru, oprzyrządowanie do badania i oprzyrządowanie odniesienia oraz pomiary dotyczące złączy zgodnych z IEC 60603-7 -- Badania od 26a do 26gWprowadza: EN 60512-26-100:2008/A1:2011 [IDT], IEC 60512-26-100:2008/AMD1:2011 [IDT]
-
PN-EN 60512-26-100:2009 - wersja angielska
Złącza do urządzeń elektronicznych -- Badania i pomiary -- Część 26-100: Układ do pomiaru, oprzyrządowanie do badania i oprzyrządowanie odniesienia oraz pomiary dotyczące złączy zgodnych z IEC 60603-7 -- Badania od 26a do 26gWprowadza: EN 60512-26-100:2008 [IDT], IEC 60512-26-100:2008 [IDT]
-
PN-EN 60512-27-100:2012 - wersja angielska
Złącza do urządzeń elektronicznych -- Badania i pomiary -- Część 27-100: Całościowe badania złączy wg normy wieloczęściowej IEC 60603-7 dla sygnałów do częstotliwości 500 MHz -- Badania od 27a do 27gWprowadza: EN 60512-27-100:2012 [IDT], IEC 60512-27-100:2011 [IDT]
-
PN-EN 60512-28-100:2013-07 - wersja angielska
Norma wycofana i zastąpiona przez PN-EN IEC 60512-28-100:2020-08 - wersja angielskaZłącza do urządzeń elektronicznych -- Badania i pomiary -- Część 28-100: Całościowe badania złączy wg normy wieloczęściowej IEC 60603-7 i IEC 61076-3 dla sygnałów do częstotliwości 1 000 MHz -- Badania od 28a do 28gWprowadza: EN 60512-28-100:2013 [IDT], IEC 60512-28-100:2013 [IDT]
-
PN-EN 60512-29-100:2015-10 - wersja angielska
Złącza do urządzeń elektronicznych -- Badania i pomiary -- Część 29-100: Całościowe badania złączy M12 dla sygnałów do częstotliwości 500 MHz -- Badania od 29a do 29gWprowadza: EN 60512-29-100:2015 [IDT], IEC 60512-29-100:2015 [IDT]
-
PN-EN 60512-3-1:2002 - wersja angielska
Norma wycofana i zastąpiona przez PN-EN 60512-3-1:2005 - wersja polskaZłącza do urządzeń elektronicznych -- Badania i pomiary -- Część 3-1: Badania izolacji -- Badanie 3a: Rezystancja izolacjiWprowadza: EN 60512-3-1:2002 [IDT], IEC 60512-3-1:2002 [IDT]
-
PN-EN 60512-3-1:2005 - wersja polska
Złącza do urządzeń elektronicznych -- Badania i pomiary -- Część 3-1: Badania izolacji -- Badanie 3a: Rezystancja izolacjiWprowadza: EN 60512-3-1:2002 [IDT], IEC 60512-3-1:2002 [IDT]
-
PN-EN 60512-4-1:2004 - wersja angielska
Norma wycofana i zastąpiona przez PN-EN 60512-4-1:2006 - wersja polskaZłącza do urządzeń elektronicznych -- Badania i pomiary -- Część 4-1: Badania wytrzymałości elektrycznej -- Badanie 4a: Próba napięciowaWprowadza: EN 60512-4-1:2003 [IDT], IEC 60512-4-1:2003 [IDT]
-
PN-EN 60512-4-1:2006 - wersja polska
Złącza do urządzeń elektronicznych -- Badania i pomiary -- Część 4-1: Badania wytrzymałości elektrycznej -- Badanie 4a: Próba napięciowaWprowadza: EN 60512-4-1:2003 [IDT], IEC 60512-4-1:2003 [IDT]
-
PN-EN 60512-4-2:2002 - wersja angielska
Norma wycofana i zastąpiona przez PN-EN 60512-4-2:2006 - wersja polskaZłącza do urządzeń elektronicznych -- Badania i pomiary -- Część 4-2: Badania wytrzymałości elektrycznej -- Badanie 4b: Wyładowania niezupełneWprowadza: EN 60512-4-2:2002 [IDT], IEC 60512-4-2:2002 [IDT]
-
PN-EN 60512-4-2:2006 - wersja polska
Złącza do urządzeń elektronicznych -- Badania i pomiary -- Część 4-2: Badania wytrzymałości elektrycznej -- Badanie 4b: Wyładowania niezupełneWprowadza: EN 60512-4-2:2002 [IDT], IEC 60512-4-2:2002 [IDT]
-
PN-EN 60512-4-3:2002 - wersja angielska
Norma wycofana i zastąpiona przez PN-EN 60512-4-3:2006 - wersja polskaZłącza do urządzeń elektronicznych -- Badania i pomiary -- Część 4-3: Badania wytrzymałości elektrycznej -- Badanie 4c: Próba napięciowa uchwytów do zaciskania skrośnegoWprowadza: EN 60512-4-3:2002 [IDT], IEC 60512-4-3:2002 [IDT]
-
PN-EN 60512-4-3:2006 - wersja polska
Złącza do urządzeń elektronicznych -- Badania i pomiary -- Część 4-3: Badania wytrzymałości elektrycznej -- Badanie 4c: Próba napięciowa uchwytów zaciskanych skrośnieWprowadza: EN 60512-4-3:2002 [IDT], IEC 60512-4-3:2002 [IDT]
-
PN-EN 60512-5-1:2002 - wersja angielska
Norma wycofana i zastąpiona przez PN-EN 60512-5-1:2006 - wersja polskaZłącza do urządzeń elektronicznych -- Badania i pomiary -- Część 5-1: Badania obciążalności prądowej -- Badanie 5a: Przyrost temperaturyWprowadza: EN 60512-5-1:2002 [IDT], IEC 60512-5-1:2002 [IDT]
-
PN-EN 60512-5-1:2006 - wersja polska
Złącza do urządzeń elektronicznych -- Badania i pomiary -- Część 5-1: Badania obciążalności prądowej -- Badanie 5a: Przyrost temperaturyWprowadza: EN 60512-5-1:2002 [IDT], IEC 60512-5-1:2002 [IDT]
-
PN-EN 60512-5-2:2002 - wersja angielska
Norma wycofana i zastąpiona przez PN-EN 60512-5-2:2005 - wersja polskaZłącza do urządzeń elektronicznych -- Badania i pomiary -- Część 5-2: Badania obciążalności prądowej -- Badanie 5b: Obniżenie znamion prądu w funkcji temperaturyWprowadza: EN 60512-5-2:2002 [IDT], IEC 60512-5-2:2002 [IDT]
-
PN-EN 60512-5-2:2005 - wersja polska
Złącza do urządzeń elektronicznych -- Badania i pomiary -- Część 5-2: Badania obciążalności prądowej -- Badanie 5b: Obniżenie obciążalności prądowej w funkcji temperaturyWprowadza: EN 60512-5-2:2002 [IDT], IEC 60512-5-2:2002 [IDT]
-
PN-EN 60512-6-1:2002 - wersja angielska
Norma wycofana i zastąpiona przez PN-EN 60512-6-1:2006 - wersja polskaZłącza do urządzeń elektronicznych -- Badania i pomiary -- Część 6-1: Badania naprężeń dynamicznych -- Badanie 6a: Przyspieszenie, stan ustalonyWprowadza: EN 60512-6-1:2002 [IDT], IEC 60512-6-1:2002 [IDT]
-
PN-EN 60512-6-1:2006 - wersja polska
Złącza do urządzeń elektronicznych -- Badania i pomiary -- Część 6-1: Badania naprężeń dynamicznych -- Badanie 6a: Przyspieszenie stałeWprowadza: EN 60512-6-1:2002 [IDT], IEC 60512-6-1:2002 [IDT]
-
PN-EN 60512-6-2:2002 - wersja angielska
Norma wycofana i zastąpiona przez PN-EN 60512-6-2:2006 - wersja polskaZłącza do urządzeń elektronicznych -- Badania i pomiary -- Część 6-2: Badania naprężeń dynamicznych -- Badanie 6b: Udar wielokrotnyWprowadza: EN 60512-6-2:2002 [IDT], IEC 60512-6-2:2002 [IDT]
-
PN-EN 60512-6-2:2006 - wersja polska
Złącza do urządzeń elektronicznych -- Badania i pomiary -- Część 6-2: Badania naprężeń dynamicznych -- Badanie 6b: Udary wielokrotneWprowadza: EN 60512-6-2:2002 [IDT], IEC 60512-6-2:2002 [IDT]
-
PN-EN 60512-6-3:2002 - wersja angielska
Norma wycofana i zastąpiona przez PN-EN 60512-6-3:2006 - wersja polskaZłącza do urządzeń elektronicznych -- Badania i pomiary -- Część 6-3: Badania naprężeń dynamicznych -- Badanie 6c: Udar pojedynczyWprowadza: EN 60512-6-3:2002 [IDT], IEC 60512-6-3:2002 [IDT]
-
PN-EN 60512-6-3:2006 - wersja polska
Złącza do urządzeń elektronicznych -- Badania i pomiary -- Część 6-3: Badania naprężeń dynamicznych -- Badanie 6c: Udary pojedynczeWprowadza: EN 60512-6-3:2002 [IDT], IEC 60512-6-3:2002 [IDT]
-
PN-EN 60512-6-4:2002 - wersja angielska
Norma wycofana i zastąpiona przez PN-EN 60512-6-4:2005 - wersja polskaZłącza do urządzeń elektronicznych -- Badania i pomiary -- Część 6-4: Badania naprężeń dynamicznych -- Badanie 6d: Wibracje (sinusoidalne)Wprowadza: EN 60512-6-4:2002 [IDT], IEC 60512-6-4:2002 [IDT]
-
PN-EN 60512-6-4:2005 - wersja polska
Złącza do urządzeń elektronicznych -- Badania i pomiary -- Część 6-4: Badania oddziaływania mechanicznego -- Badanie 6d: Wibracje (sinusoidalne)Wprowadza: EN 60512-6-4:2002 [IDT], IEC 60512-6-4:2002 [IDT]
-
PN-EN 60512-6-5:2002 - wersja angielska
Norma wycofana i zastąpiona przez PN-EN 60512-6-5:2002 - wersja polskaPodzespoły elektromechaniczne do urządzeń elektronicznych -- Podstawowe procedury badań i metody pomiarów -- Część 6-5: Badania naprężeń dynamicznych -- Badanie 6e: Wibracje przypadkoweWprowadza: EN 60512-6-5:1999 [IDT], IEC 60512-6-5:1997 [MOD]
-
PN-EN 60512-6-5:2002 - wersja polska
Podzespoły elektromechaniczne do urządzeń elektronicznych -- Podstawowe procedury badań i metody pomiarów -- Część 6-5: Badania naprężeń dynamicznych -- Badanie 6e: Wibracje przypadkoweWprowadza: EN 60512-6-5:1999 [IDT], IEC 60512-6-5:1997 [MOD]
-
PN-EN 60512-7-1:2010 - wersja angielska
Złącza do urządzeń elektronicznych -- Badania i pomiary -- Część 7-1: Badania uderzeniowe (złącza swobodne) -- Badanie 7a: Spadki swobodne (wielokrotne)Wprowadza: EN 60512-7-1:2010 [IDT], IEC 60512-7-1:2010 [IDT]
-
PN-EN 60512-7-2:2012 - wersja angielska
Złącza do urządzeń elektronicznych -- Badania i pomiary -- Część 7-2: Badania uderzeniowe (złącza swobodne) -- Badanie 7b: Wytrzymałość mechaniczna na udarWprowadza: EN 60512-7-2:2012 [IDT], IEC 60512-7-2:2011 [IDT]
-
PN-EN 60512-8-1:2010 - wersja angielska
Złącza do urządzeń elektronicznych -- Badania i pomiary -- Część 8-1: Badania obciążeniem statycznym (złącza stałe) -- Badanie 8a: Obciążenie statyczne, poprzeczneWprowadza: EN 60512-8-1:2010 [IDT], IEC 60512-8-1:2010 [IDT]
-
PN-EN 60512-8-2:2011 - wersja angielska
Złącza do urządzeń elektronicznych -- Badania i pomiary -- Część 8-2: Badania obciążeniem statycznym (złącza stałe) -- Badanie 8b: Obciążenie statyczne, poosioweWprowadza: EN 60512-8-2:2011 [IDT], IEC 60512-8-2:2011 [IDT]
-
PN-EN 60512-8-3:2011 - wersja angielska
Norma wycofana i zastąpiona przez PN-EN IEC 60512-8-3:2018-06 - wersja angielskaZłącza do urządzeń elektronicznych -- Badania i pomiary -- Część 8-3: Badania obciążeniem statycznym (złącza stałe) -- Badanie 8c: Wytrzymałość dźwigni uruchamiającejWprowadza: EN 60512-8-3:2011 [IDT], IEC 60512-8-3:2011 [IDT]


