Informacje dodatkowe
Numer | PN-M-53452:1978 - wersja polska |
---|---|
Tytuł | Przyrządy do pomiaru chropowatości powierzchni -- Profilografy stykowe -- Wymagania |
Data publikacji | 22-06-1978 |
Data wycofania | 30-11-1998 |
Liczba stron | 2 |
Grupa cenowa | A |
Sektor | SMC, Sektor Maszyn i Inżynierii |
Organ Techniczny | KT 207, Obróbki Ubytkowej i Przyrostowej oraz Charakterystyki Warstwy Wierzchniej |
ICS | 17.040.30 |
Zastąpiona przez | PN-ISO 3274:1997 - wersja polska |