PN-EN ISO 8289-2:2019-06 - wersja angielska

W niniejszym dokumencie określono metodę badania niskonapięciowego w celu wykrycia i umiejscowienia wad (porów, pęknięć lub odprysków), które pojawiają się na powłokach emalii na falistych i/lub bruzdowych profilach i które przenikają do metalu podłoża.
Metoda jest oparta na efekcie barwnym (metoda optyczna) i ma zastosowanie do precyzyjnego wykrywania wad i ich dokładnego umiejscowienia. Może być stosowana do nie płaskich, a bardziej wyprofilowanych kształtów, takich jak powierzchnie faliste lub bruzdowe.
UWAGA Badanie niskonapięciowe jest nieniszczącym badaniem w celu wykrycia wad, które przenikają do metalu podłoża, i dlatego jest całkowicie różne od badania wysokonapięciowego zgodnie z ISO 2746.