PN-EN ISO 8254-2:2005 - wersja polska
Bez VAT:
117,00 PLN
Z VAT:
143,91 PLN
Papier i tektura -- Pomiar połysku -- Część 2: Połysk pod kątem 75 stopni z zastosowaniem wiązki równoległej, metoda DIN
Zakres
Podano fotometryczną metodę badania oceny wizualnego odczucia połysku przy użyciu reflektometru, gdy wartość współczynnika odbicia fali jest mierzona pod kątem 75 stopni. Określono zasadę metody, wyposażenie, pobieranie próbek, przygotowanie próbek do badań, wykonanie oznaczania oraz protokół badań