PN-EN ISO 8254-2:2003 - wersja angielska
Bez VAT:
221,80 PLN
Z VAT:
272,81 PLN
Papier i tektura -- Pomiar połysku -- Część 2: Połysk przy kącie 75 stopni z zastosowaniem wiązki równoległej, metoda DIN
Zakres
Podano fotometryczną metodę badania przeznaczoną do oszacowania wizualnego połysku z zastosowaniem pomiaru wartości odbicia zmierzonego przy kącie 75 stopni. Omówiono terminy i definicje, zasadę metody, wyposażenie, pobieranie próbek, przygotowanie próbek badanych, procedurę oraz protokół badań