PN-EN ISO 8254-1:2005 - wersja polska

Norma wycofana i zastąpiona przez PN-EN ISO 8254-1:2009 - wersja angielska

Bez VAT: 103,50  PLN Z VAT: 127,31  PLN
Papier i tektura -- Pomiar połysku -- Część 1: Połysk pod kątem 75 stopni z zastosowaniem wiązki zbieżnej, metoda TAPPI

Zakres

Podano metodę pomiaru połysku papieru pod kątem 75 stopni do kierunku prostopadłego do powierzchni papieru. Określono zasadę metody, przyrządy, pobieranie próbek, przygotowanie próbek do badań, kalibrację przyrządu, wykonanie oznaczania, precyzję metody oraz protokół badań

* wymagane pola

Bez VAT: 103,50  PLN Z VAT: 127,31  PLN

Informacje dodatkowe

Numer PN-EN ISO 8254-1:2005 - wersja polska
Tytuł Papier i tektura -- Pomiar połysku -- Część 1: Połysk pod kątem 75 stopni z zastosowaniem wiązki zbieżnej, metoda TAPPI
Data publikacji 30-03-2005
Data wycofania 14-05-2009
Liczba stron 15
Grupa cenowa H
Sektor SPU, Sektor Produktów Powszechnego Użytku
Organ Techniczny KT 25, Mas Włóknistych, Papieru, Tektury i ich Przetworów
Wprowadza EN ISO 8254-1:2003 [IDT], ISO 8254-1:1999 [IDT]
Zastępuje PN-EN ISO 8254-1:2003 - wersja angielska
ICS 85.060
Zastąpiona przez PN-EN ISO 8254-1:2009 - wersja angielska