PN-EN ISO 8254-1:2003 - wersja angielska

Norma wycofana i zastąpiona przez PN-EN ISO 8254-1:2005 - wersja polska

Bez VAT: 121,60  PLN Z VAT: 149,57  PLN
Papier i tektura -- Pomiar połysku -- Część 1: Połysk przy kącie 75 stopni z zastosowaniem wiązki zbieżnej, metoda TAPPI

Zakres

Podano metodę pomiaru połysku przy kącie padania 75 stopni do kierunku prostopadłego do powierzchni papieru. Omówiono terminy i definicje, zasadę metody, przyrządy, pobieranie próbek, przygotowanie próbek badanych, kalibrowanie przyrządu, procedurę, precyzję oraz protokół badań

* wymagane pola

Bez VAT: 121,60  PLN Z VAT: 149,57  PLN

Informacje dodatkowe

Numer PN-EN ISO 8254-1:2003 - wersja angielska
Tytuł Papier i tektura -- Pomiar połysku -- Część 1: Połysk przy kącie 75 stopni z zastosowaniem wiązki zbieżnej, metoda TAPPI
Data publikacji 15-11-2003
Data wycofania 30-03-2005
Liczba stron 20
Grupa cenowa K
Sektor SPU, Sektor Produktów Powszechnego Użytku
Organ Techniczny KT 25, Mas Włóknistych, Papieru, Tektury i ich Przetworów
Wprowadza EN ISO 8254-1:2003 [IDT], ISO 8254-1:1999 [IDT]
ICS 85.060
Zastąpiona przez PN-EN ISO 8254-1:2005 - wersja polska