PN-EN ISO 4518:2021-09 - wersja angielska

W niniejszym dokumencie określono metodę pomiaru grubości powłoki metalowej polegającą na uprzednim utworzeniu uskoku pomiędzy powierzchnią powłoki a powierzchnią podłoża i pomiarze wysokości uskoku przy użyciu profilografu. Obejmuje charakterystyki urządzeń i sposób postępowania odpowiedni dla tego szczególnego zastosowania metody profilometrycznej.

Metodę stosuje się do pomiaru grubości powłok metalowych od 0,01 μm do 1 000 μm na powierzchniach płaskich oraz, przy zachowaniu odpowiednich środków ostrożności, na powierzchniach cylindrycznych. Metoda ta jest szczególnie użyteczna do pomiarów niewielkich grubości, jednak, przy pomiarach grubości mniejszych niż 0,01 μm, gdy płaskość powierzchni i gładkość powierzchni odgrywają istotną rolę, metody tej nie należy stosować w dolnym, najniższym zakresie pomiarowym elektronicznych profilografów stykowych. Metoda ta jest odpowiednia do pomiarów grubości powłoki przy przygotowywaniu wzorców grubości powłoki.