Zakres
W niniejszej części ISO 14577 określono metodę badania powłok, która jest szczególnie przydatna do badań w zakresie nano/mikro, w szczególności powłok cienkich. Jednakże, zastosowanie tej metody według niniejszej części ISO 14577, nie jest wymagane, jeżeli głębokość wciskania wgłębnika stanowi mały ułamek grubości powłoki tak, że w każdym z przypadków wpływ podłoża może być pominięty, a powłoka może być uznana za materiał luźny. Podano limity dla takich przypadków.
Niniejsza metoda jest ograniczona do badania pojedynczych warstw, gdy wgłębienie jest wykonywane prostopadle do badanego fragmentu powierzchni, ale stopniowane i wielowarstwowe powłoki mogą być również mierzone na przekroju poprzecznym w przypadku, gdy grubość poszczególnych warstw lub stopniowań jest większa niż rozdzielczość przestrzenna procesu wciskania wgłębnika.
Niniejsza metoda badania nie jest ograniczona do żadnego konkretnego rodzaju materiału. Powłoki metalowe i niemetalowe są określone w zakresie niniejszej części ISO 14577. W niniejszej części ISO 14577 termin powłoka jest używany w odniesieniu do dowolnej stałej warstwy o jednorodnych właściwościach innych niż podłoże, z którym jest związana. Niniejsza metoda zakłada, że właściwości powłoki są stałe wraz z głębokością wciskania wgłębnika. Powłoki kompozytowe uważane są za jednorodne, gdy rozmiar struktury jest mniejszy niż rozmiar wgłębienia.
Stosowanie niniejszej części ISO 14577 w zakresie pomiaru twardości wgłębienia jest możliwe tylko wtedy, gdy wgłębnik ma kształt piramidy lub stożka o promieniu krzywizny wystarczająco małym dla odkształcenia plastycznego występującego w powłoce. Twardości materiałów lepkosprężystych lub materiałów wykazujących znaczne pełzanie będą istotnie uzależnione od czasu potrzebnego do przeprowadzenia badania.
