PN-EN IEC 63185:2026-04 - wersja angielska

W niniejszym dokumencie przedstawiono metodę pomiaru zespolonej przenikalności dielektrycznej substratów dielektrycznych w zakresie częstotliwości mikrofalowych i fal milimetrowych. Metoda była rozwijana w celu oszacowania właściwości dielektrycznych niskostratnych materiałów stosowanych w mikrofalach, w obwodach fal milimetrowych i urządzeniach. W niniejszej metodzie używa się modów wyższego rzędu cylindrycznego dyskowego rezonatora zrównoważonego i zapewnia pomiary szerokopasmowe substratów dielektrycznych za pomocą jednego rezonatora, gdzie pobudzenie wnęki i pól otoczkowych są brane pod uwagę na podstawie dokładnej analizy dopasowania modu.
W porównaniu z metodą konwencjonalną opisaną w IEC 62810 i IEC 61338-1-3 niniejsza metoda ma następujące właściwości:
• wartości przenikalności względnej εᵣʹ i tangens kąta stratności tg