PN-EN IEC 61967-8:2024-02 - wersja angielska

Bez VAT: 117,30  PLN Z VAT: 144,28  PLN
Układy scalone -- Pomiar emisji elektromagnetycznych -- Część 8: Pomiary emisji promieniowanej -- Metoda linii paskowej IC

Zakres

W niniejszej części IEC 61967 określono metodę pomiaru promieniowania elektromagnetycznego z układu scalonego (IC) za pomocą linii paskowej IC. Oceniany układ scalony jest montowany na płytce testowej EMC (PCB) umieszczonej między aktywnym przewodnikiem a płaszczyzną uziemienia linii paskowej IC.

* wymagane pola

Bez VAT: 117,30  PLN Z VAT: 144,28  PLN

Informacje dodatkowe

Numer PN-EN IEC 61967-8:2024-02 - wersja angielska
Tytuł Układy scalone -- Pomiar emisji elektromagnetycznych -- Część 8: Pomiary emisji promieniowanej -- Metoda linii paskowej IC
Data publikacji 13-02-2024
Liczba stron 26
Grupa cenowa M
Sektor SEK, Sektor Elektroniki
Organ Techniczny KT 60, Energoelektroniki i Przyrządów Półprzewodnikowych
Wprowadza EN IEC 61967-8:2023 [IDT], IEC 61967-8:2023 [IDT]
Zastępuje PN-EN 61967-8:2012 - wersja angielska
ICS 31.200