PN-EN 61967-8:2012 - wersja angielska

Niniejsza procedura pomiarowa definiuje metodę pomiaru emisji promieniowanej z układu scalonego (IC) za pomocą lini paskowej IC w zakresie częstotliwości od 150 kHz do 3 GHz. Badaną linię IC montuje się na pomiarowej płytce drukowanej (PCB) między przewodnikiem czynnym a uziemieniem układu paskowego IC. Niniejsza metoda pomiarowa opiera się na zasadach pomiaru prowadnicy fal TEM wg IEC 61000-4-20. Stanowisko z linią paskową stosuje się do pomiaru emisji RF układów scalonych. Napięcie RF portu linii paskowej odnosi się do potencjału emisji elektromagnetycznej z układu scalonego i jest mierzone za pomocą analizatora widma lub odbiornika pomiarowego