PN-EN 61967-8:2012 - wersja angielska

Bez VAT: 93,50  PLN Z VAT: 115,01  PLN
Układy scalone -- Pomiar emisji elektromagnetycznych -- Część 8: Pomiary emisji promieniowanej -- Metoda linii paskowej IC

Zakres

Niniejsza procedura pomiarowa definiuje metodę pomiaru emisji promieniowanej z układu scalonego (IC) za pomocą lini paskowej IC w zakresie częstotliwości od 150 kHz do 3 GHz. Badaną linię IC montuje się na pomiarowej płytce drukowanej (PCB) między przewodnikiem czynnym a uziemieniem układu paskowego IC. Niniejsza metoda pomiarowa opiera się na zasadach pomiaru prowadnicy fal TEM wg IEC 61000-4-20. Stanowisko z linią paskową stosuje się do pomiaru emisji RF układów scalonych. Napięcie RF portu linii paskowej odnosi się do potencjału emisji elektromagnetycznej z układu scalonego i jest mierzone za pomocą analizatora widma lub odbiornika pomiarowego

* wymagane pola

Bez VAT: 93,50  PLN Z VAT: 115,01  PLN

Informacje dodatkowe

Numer PN-EN 61967-8:2012 - wersja angielska
Tytuł Układy scalone -- Pomiar emisji elektromagnetycznych -- Część 8: Pomiary emisji promieniowanej -- Metoda linii paskowej IC
Data publikacji 19-03-2012
Liczba stron 20
Grupa cenowa K
Sektor SEK, Sektor Elektroniki
Organ Techniczny KT 60, Energoelektroniki i Przyrządów Półprzewodnikowych
Wprowadza EN 61967-8:2011 [IDT], IEC 61967-8:2011 [IDT]
ICS 31.200