PN-EN IEC 61169-1-5:2022-11 - wersja angielska

Bez VAT: 100,60  PLN Z VAT: 123,74  PLN
Złącza wielkiej częstotliwości -- Część 1-5: Metody badania właściwości elektrycznych -- Degradacja czasu narastania

Zakres

Niniejsza część IEC 61169 zawiera metody badania dotyczące degradacji czasu narastania złącza wielkiej częstotliwości (RF).
Niniejszy dokument dotyczy złączy triaxial i innych złączy wielkiej częstotliwości.

* wymagane pola

Bez VAT: 100,60  PLN Z VAT: 123,74  PLN

Informacje dodatkowe

Numer PN-EN IEC 61169-1-5:2022-11 - wersja angielska
Tytuł Złącza wielkiej częstotliwości -- Część 1-5: Metody badania właściwości elektrycznych -- Degradacja czasu narastania
Data publikacji 09-11-2022
Liczba stron 22
Grupa cenowa L
Sektor SEK, Sektor Elektroniki
Organ Techniczny KT 241, Podzespołów Elektromechanicznych
Wprowadza EN IEC 61169-1-5:2022 [IDT], IEC 61169-1-5:2022 [IDT]
ICS 33.120.10