PN-EN IEC 60444-6:2022-04 - wersja angielska

Niniejsza część IEC 60444 dotyczy pomiarów wpływu poziomu (DLD) wzbudzenia rezonatorów kwarcowych.
Zostały opisane dwie metody badań (A i C) oraz jedna metoda referencyjna (B).
"Metoda A", bazująca na czwórniku typu "pi" zgodnie z IEC 60444-5, może być użyta w całym zakresie częstotliwości objętym tą częścią IEC 60444. "Metoda odniesienia B", bazująca na czwórniku typu "pi" lub metodzie odbiciowej zgodnie z IEC 60444-5 lub IEC 60444-8, może być użyta w całym zakresie częstotliwości objętym tą częścią IEC 60444. "Metoda C", metoda generacyjna, nadaje się do pomiarów dużych ilości rezonatorów kwarcowych pracujących w modzie podstawowym w stałych warunkach.

UWAGA Metody pomiaru określone w niniejszym dokumencie mają zastosowanie nie tylko do cięcia AT lecz również do innych cięć kryształów i trybów wibracyjnych, takich jak podwójnie rotowane cięcia (IT,SC) oraz do kamertonowych komórek elementarnych (poprzez zastosowanie urządzenia badawczego o wysokiej impedancji).