PN-EN 62047-14:2012 - wersja angielska

Bez VAT: 126,50  PLN Z VAT: 155,60  PLN
Przyrządy półprzewodnikowe -- Przyrządy mikroelektromechaniczne -- Część 14: Metoda pomiaru granicy formowania metalicznych materiałów cienkowarstwowych

Zakres

Niniejsza część normy IEC 62047 opisuje definicje i procedury pomiaru granicy formowania metalicznych materiałów cienkowarstwowych o grubości w zakresie od 0,5 mikrometra do 300 mikrometrów. Metaliczne materiały cienkowarstwowe opisane tutaj są używane w komponentach elektrycznych, MEMS oraz mikroprzyrządach. Jeśli metaliczne materiały cienkowarstwowe zastosowane w MEMS (patrz 2.1.2 w IEC 62047-1:2005) są wytwarzane za pomocą procesów kształtowania jak drukowanie, to konieczne jest przewidywanie uszkodzeń materiału w celu zwiększenia niezawodności komponentów. Dzięki temu przewidywaniu efektywność wytwarzania komponentów MEMS za pomocą procesu kształtowania może być poprawiona, ponieważ okres ulepszania wyrobu może być skrócony, a koszty produkcji w ten sposób zmniejszone. Niniejsza norma przedstawia jedną z metod przewidywania uszkodzeń materiałów w procesie drukowania

* wymagane pola

Bez VAT: 126,50  PLN Z VAT: 155,60  PLN

Informacje dodatkowe

Numer PN-EN 62047-14:2012 - wersja angielska
Tytuł Przyrządy półprzewodnikowe -- Przyrządy mikroelektromechaniczne -- Część 14: Metoda pomiaru granicy formowania metalicznych materiałów cienkowarstwowych
Data publikacji 08-08-2012
Liczba stron 20
Grupa cenowa K
Sektor SEK, Sektor Elektroniki
Organ Techniczny KT 60, Energoelektroniki i Przyrządów Półprzewodnikowych
Wprowadza EN 62047-14:2012 [IDT], IEC 62047-14:2012 [IDT]
ICS 31.080.99