PN-EN 62047-10:2012 - wersja angielska

Bez VAT: 90,50  PLN Z VAT: 111,32  PLN
Przyrządy półprzewodnikowe -- Przyrządy mikroelektromechaniczne -- Część 10: Badanie materiałów MEMS na ściskanie za pomocą mikrokolumn

Zakres

Niniejsza norma określa metodę badania materiałów MEMS na ściskanie za pomocą mikrokolumn w celu pomiaru parametrów zgniatania z dużą dokładnością i powtarzalnością oraz przy niezbyt trudnym wytwarzaniu próbki. Mierzy się zależności miedzy naprężeniem a odkształceniem nieosiowym, z czego można obliczyć moduł elastyczności na ściskanie i granicę plastyczności. Próbka jest cylindryczną kolumną zbudowaną na sztywnym (albo wysoce sztywnym) podłożu przy wykorzystaniu technologii mikroobróbki i jej proporcje (stosunek średnicy kolumny do jej wysokości), powininny być większe niż 3. Niniejsza norma ma zastosowanie do metalicznych, ceramicznych i polimerowych materiałów

* wymagane pola

Bez VAT: 90,50  PLN Z VAT: 111,32  PLN

Informacje dodatkowe

Numer PN-EN 62047-10:2012 - wersja angielska
Tytuł Przyrządy półprzewodnikowe -- Przyrządy mikroelektromechaniczne -- Część 10: Badanie materiałów MEMS na ściskanie za pomocą mikrokolumn
Data publikacji 19-03-2012
Liczba stron 14
Grupa cenowa G
Sektor SEK, Sektor Elektroniki
Organ Techniczny KT 60, Energoelektroniki i Przyrządów Półprzewodnikowych
Wprowadza EN 62047-10:2011 [IDT], IEC 62047-10:2011/COR1:2012 [IDT], IEC 62047-10:2011 [IDT]
ICS 31.080.99