PN-EN 61788-15:2012 - wersja angielska
Bez VAT:
184,60 PLN
Z VAT:
227,06 PLN
Nadprzewodnictwo -- Część 15: Pomiary charakterystyk elektronicznych -- Wewnętrzna impedancja powierzchniowa warstw nadprzewodnikowych przy częstotliwościach mikrofalowych
Zakres
Niniejsza część normy opisuje pomiary wewnętrznej impedancji powierzchniowej (Zs) warstw HTS przy częstotliwościach mikrofalowych przy pomocy zmodyfikowanej metody dwurezonansowej rezonatora dielektrycznego [13, 14]. Celem badań jest otrzymanie temperaturowej zależności wewnętrznej impedancji powierzchniowej Zs przy częstotliwości rezonansowej f0. Zakresy częstotliwości i grubości oraz rozdzielczość pomiaru wewnętrznej impedancji powierzchniowej Zs warstw HTS są następujące: - Częstotliwość: aż do 40 GHz - Grubość warstwy: większa niż 50 nm - Rozdzielczość pomiaru: 0,01 m przy 10 GHz Dane wewnętrznej Zs przy mierzonej częstotliwości i dla porównania przeskalowane do 10 GHz, przyjmując regułę f2 dla wewnętrznej powierzchniowej rezystancji Rs (f <40 GHz) oraz regułę f dla wewnętrznej powierzchniowej reaktancji Xs, powinny zostać przedstawione w raporcie
