PN-EN 61788-10:2006 - wersja angielska

Bez VAT: 221,80  PLN Z VAT: 272,81  PLN
Nadprzewodnictwo -- Część 10: Pomiar temperatury krytycznej -- Temperatura krytyczna nadprzewodników kompozytowych mierzona metodą rezystancyjną

Zakres

Omówiono rezystancyjną metodę pomiaru temperatury krytycznej nadprzewodników kompozytowych do celów przemysłowych. Norma obejmuje nadprzewodniki kompozytowe Cu/Nb-Ti, Cu/Cu-Ni/Nb-Ti, Cu-Ni/Nb-Ti, Cu/Nb3Sn i Cu/Nb3Al, nadprzewodniki kompozytowe metalizowane MgB2 i nadprzewodniki tlenkowe na bazie Bi stabilizowane metalem oraz przewodniki pokryte Itrem lub innymi na bazie ziem rzadkich, które mają strukturę monolityczną i kształt przewodów okrągłych, płaskich lub kwadratowych zawierających nadprzewodniki jedno- lub wielordzeniowe

* wymagane pola

Bez VAT: 221,80  PLN Z VAT: 272,81  PLN

Informacje dodatkowe

Numer PN-EN 61788-10:2006 - wersja angielska
Tytuł Nadprzewodnictwo -- Część 10: Pomiar temperatury krytycznej -- Temperatura krytyczna nadprzewodników kompozytowych mierzona metodą rezystancyjną
Data publikacji 11-12-2006
Liczba stron 39
Grupa cenowa R
Sektor SEK, Sektor Elektroniki
Organ Techniczny KT 290, Technik Specjalnych w Elektryce
Wprowadza EN 61788-10:2006 [IDT], IEC 61788-10:2006 [IDT]
Zastępuje PN-EN 61788-10:2003 - wersja angielska
ICS 29.050