PN-EN 13523-1:2024-09 - wersja angielska

W niniejszym dokumencie ustalono metody oznaczania grubości suchej powłoki organicznej na podłożu metalowym (powlekanym metodą ciągłą).
W niniejszym dokumencie podano pięć odpowiednich metod:
a) metoda z zastosowaniem indukcji magnetycznej;
b) metoda z zastosowaniem prądu wirowego;
c) metoda mikrometryczna;
d) metoda optyczna;
e) metoda wzmocnionej interferencji optycznej.

Metody te można stosować tylko w przypadku produktów o gładkich i płaskich podłożach, sama powłoka może być jednak strukturalna. W takim przypadku w metodach a) i b) średnia z serii odczytów będzie przedstawiać średnią wartość grubości powłoki organicznej, podczas gdy metodą c) otrzyma się maksymalną grubość powłoki, metodą d) można otrzymać minimalną, maksymalną i średnią grubość a metodą e) otrzymuje się całkowitą grubość.
Nieniszczące metody pomiaru grubości suchych powłok dla taśm mają zastosowanie tylko dla metody a).