PN-H-04605:1987 - wersja polska

Omówiono cztery metody badań: metoda całkowitego rozpuszczania, metoda kulometryczna, metoda profilometryczna i metoda mikroskopowa. Podano określenie powierzchni istotnie ważnej, powierzchni pomiaru, powierzchni odniesienia, średniej grubości powłoki, minimalnej i maksymalnej grubości miejscowej powłoki, skoku potencjału i stopnia profilometrycznego. Określono wielkość partii wyrobów, sposób odtłuszczania próbek do badań i przygotowania do badań oraz sposób wyznaczania grubości średniej i miejscowej powłok metalowych. Podano zakres i zasadę metod, aparaturę, sposób pomiaru, błąd metody i wynik pomiaru. W załączniku omówiono przygotowanie wyrobów metalograficznych do badań metodą mikroskopową