PN-EN ISO 25178-700:2023-06 - wersja angielska

W niniejszym dokumencie określono ogólne procedury wzorcowania, regulacji i weryfikacji charakterystyk metrologicznych wspólne dla przyrządów do pomiaru topografii przestrzennej, określonych w ISO 25178-600.
Ponieważ profile powierzchni można wyodrębnić z obrazów topografii powierzchni, większość metod opisanych w tym dokumencie można dostosować do przyrządów profilometrycznych.
Niniejszy dokument nie obejmuje kwestii specyficznych dla przyrządów. Na przykład dla przyrządów opartych o sondowanie mechaniczne, w którym głowica porusza się dodatkowym ruchem łukowym, dodatkowe pomiary są określone w ISO 25178-701.
Niniejszy dokument nie zawiera procedur dotyczących metod powierzchniowych (integracyjnych), mimo że są one również określone w ISO 25178-6. Na przykład rozpraszanie światła należy do klasy technik znanych jako metoda powierzchniowa do pomiaru topografii powierzchni.