PN-EN ISO 25178-603:2013-12 - wersja angielska

Bez VAT: 171,90  PLN Z VAT: 211,44  PLN
Specyfikacje geometrii wyrobów (GPS) -- Struktura geometryczna powierzchni: Przestrzenna -- Część 603: Charakterystyki nominalne przyrządów bezstykowych (mikroskopów interferometrycznych z korekcją fazy)

Zakres

W niniejszej części ISO 25178 opisano charakterystyki nominalne profilów interferometrycznych z korekcją fazy (PSI) i mikroskopów do pomiaru przestrzennej struktury geometrycznej powierzchni

* wymagane pola

Bez VAT: 171,90  PLN Z VAT: 211,44  PLN

Informacje dodatkowe

Numer PN-EN ISO 25178-603:2013-12 - wersja angielska
Tytuł Specyfikacje geometrii wyrobów (GPS) -- Struktura geometryczna powierzchni: Przestrzenna -- Część 603: Charakterystyki nominalne przyrządów bezstykowych (mikroskopów interferometrycznych z korekcją fazy)
Data publikacji 17-12-2013
Liczba stron 42
Grupa cenowa S
Sektor SMC, Sektor Maszyn i Inżynierii
Organ Techniczny KT 207, Obróbki Ubytkowej i Przyrostowej oraz Charakterystyki Warstwy Wierzchniej
Wprowadza EN ISO 25178-603:2013 [IDT], ISO 25178-603:2013 [IDT]
ICS 17.040.20, 17.040.30