PN-EN ISO 19749:2023-09 - wersja angielska
Bez VAT:
360,20 PLN
Z VAT:
443,05 PLN
Nanotechnologie -- Pomiary rozkładów wielkości i kształtu cząstek metodą skaningowej mikroskopii elektronowej
Zakres
Niniejszy dokument określa metody wyznaczania rozkładów wielkości i kształtu nanocząstek poprzez pozyskiwanie i ocenę obrazów ze skaningowego mikroskopu elektronowego oraz uzyskiwania i raportowania dokładnych wyników.
UWAGA 1 Niniejszy dokument ma zastosowanie do cząstek o dolnej granicy wielkości, która zależy od wymaganej niepewności i od odpowiedniej wydajności SEM, które mają być sprawdzone jako pierwsze - zgodnie z wymaganiami opisanymi w niniejszym dokumencie.
UWAGA 2 Niniejszy dokument dotyczy również opartych na SEM pomiarów wielkości i kształtu cząstek w większej niż nanoskali.
