PN-EN ISO 11562:1998 - wersja polska
Bez VAT:
60,80 PLN
Z VAT:
74,78 PLN
Specyfikacje geometrii wyrobów -- Struktura geometryczna powierzchni: metoda profilowa -- Charakterystyki metrologiczne filtrów z korekcją fazy
Zakres
Opisano charakterystyki metrologiczne filtrów z korekcją fazy służących do pomiaru profilów powierzchni. W szczególności określono jak oddzielić składową długofalową od składowej krótkofalowej profilu powierzchni. W załączniku A podano kryteria doboru filtrów z korekcją fazy, w załączniku B - powiązanie normy z modelem podstawowym GPS, natomiast w załączniku C - bibliografię